Análisis de Materiales Nanoestructurados por Difracción de Rayos X

S.P. SILVETTI; G. POZO LÓPEZ

AVANCES EN ANALISIS POR TECNICAS DE RAYOS X

FACULTAD DE MATEMÃ?TICA, ASTRONOMÃ?A Y FÃ?SICA, UNIVERSIDAD NACIONAL DE CÃ?RDOBA

Año: 2004 vol. XIII p. 45 - 53

1515-1565

A fin de relacionar la microestructura de los polvos molidos con sus propiedades físicas,es necesario usar métodos que permitan obtener resultados confiables de tamaño y de deformación. El análisis del perfil de difracción de rayos X es una herramienta para caracterizar el comportamiento de estos polvos. Se comparan los resultados concernientes al tamaño de los dominios coherentemente difractantes y la deformación de red de polvos molidos y tratados térmicamente, de acuerdo a varios modelos: relación de Scherrer, método de ancho integrales, gráficos de Willamson-Hall, ajustes por funciones tipo Voight y métodos de Fourier como el de Warren-Averbach. Los polvos utilizados como materiales de partida para el HEBM son polvos comerciales de hierro puro y óxidos (SiO2 NiO,ZnO,y Fe2O3). El HEBM se realizó en atmósfera de aire usando cazoletas y bolas de acero al Cr Ni. La evolución de la estructura se estudió por difracción de rayos X usando radiación Cu Ka. Los polvos molidos fueron tratados térmicamente en aire y argón desde temperatura ambiente hasta a 1000°C. El formalismo de Scherrer debe ser empleado solo en una primera aproximación cualitativa, resultados mas confiables se obtienen al utilizar el formalismo de Warren-Averbach.