INVESTIGADORES
GIOVANETTI Lisandro Jose
congresos y reuniones científicas
Título:
Full pixel analysis: Nueva metodología de optimización de experimentos GISAXS.
Autor/es:
CRISTIÁN HUCK IRIART; LISANDRO J. GIOVANETTI; DANIEL COSTA; GUINTHER KELLERMANN; ALDO F. CRAIEVICH; FÉLIX G. REQUEJO
Lugar:
La Plata
Reunión:
Congreso; XI Reunión Anual de la AACr; 2015
Institución organizadora:
Asociación Argentina de Cristalografía
Resumen:
El empleo de fuentes de radiación X de alto brillo (sincrotrón) permite el estudio in-situ de diversos procesos fisicoquímicos; En consecuencia, se genera una gran cantidad de datos. El análisis individual de los resultados es ineficiente, y por consiguiente, surge la necesidad de emplear metodologías automatizadas. Es por ello que las rutinas computacionales en lenguajes de programación modernos como Python cobran popularidad [1]. En el presente trabajo describiremos un método numérico de optimización de imágenes bidimensionales de experimentos de dispersión de rayos X a bajos ángulos en incidencia rasante (GISAXS). En el mismo se minimizan las diferencias entre la imagen modelada con la obtenida experimentalmente en su totalidad. Esta metodología suplanta el análisis convencional de experimentos GISAXS los cuales ajusta la intensidad registrada sobre cortes arbitrarios horizontales y/o verticales de las imagenes [2]. Se exhibirá como ejemplo la cinética de formación endotaxial de nanohexágonos de CoSi2 en Si(001) [3] en condiciones isotérmicas. [1] Perkel, J.M. Nature, 518, 125-126 (2015) [2] Lazzari, R, J. Appl. Cryst, 35, 406-421 (2002) [3] Kellermann,G , Appl. Phys. Lett. 100, 063116 (2012)
