Caracterización de electrodos en analizadores de impedancia

LUIS D. JUNCIEL; S. OSORIO; G. ECHEVERRÍA; M. FRECHERO; M. TAYLOR; R. ALONSO; A. LÓPEZ GARCÍA; M. DE LA RUBIA; J. JÍMENEZ MARTÍNEZ; J. DE FRUTOS VAQUERIZO; G. PUNTE

Montevideo

Congreso; 96 ta Reunión de la Asociación de Física Argentina y XII Reunión de la SUF; 2011

Asociación de Física Argentina

Sesi´on de Posters XII Reuni´on de la SUF y 96 Reuni´on Nacional de la AFA P 468 Caracterizaci´on de electrodos en analizadores de impedancia Junciel L1,Osorio S2,Echeverr´ýa G3,Frechero M4,Taylor M5,Alonso R6,L´opez Garc´ýa A7,de la Rubia M8,J´ým´enez Mart´ýnez J9,de Frutos Vaquerizo J10,Punte G11 Mart´ýnez J9,de Frutos Vaquerizo J10,Punte G11 Mart´ýnez J9,de Frutos Vaquerizo J10,Punte G11 Mart´ýnez J9,de Frutos Vaquerizo J10,Punte G11 Mart´ýnez J9,de Frutos Vaquerizo J10,Punte G11 Mart´ýnez J9,de Frutos Vaquerizo J10,Punte G11 Mart´ýnez J9,de Frutos Vaquerizo J10,Punte G11 1,Osorio S2,Echeverr´ýa G3,Frechero M4,Taylor M5,Alonso R6,L´opez Garc´ýa A7,de la Rubia M8,J´ým´enez Mart´ýnez J9,de Frutos Vaquerizo J10,Punte G119,de Frutos Vaquerizo J10,Punte G11 1 Dpto. de Electrotecnia, FI, UNLP, La PlataDpto. de Electrotecnia, FI, UNLP, La Plata 1 2 3 5 6 7 11 IFLP (CCT-La Plata), Dpto. F´ýsica, FCE UNLP, La PlataIFLP (CCT-La Plata), Dpto. F´ýsica, FCE UNLP, La Plata 3 Dpto. de Ciencias B´asicas, FI, UNLP, La PlataDpto. de Ciencias B´asicas, FI, UNLP, La Plata 4 Dpto. de Qu´ýmica, UNS, Bah´ýa BlancaDpto. de Qu´ýmica, UNS, Bah´ýa Blanca 8 9 10 ETSI Telecomunicaciones, Fac. Ing., Universidad Polit´ecnica de Madrid, Madrid, Espa?naETSI Telecomunicaciones, Fac. Ing., Universidad Polit´ecnica de Madrid, Madrid, Espa?na El presente trabajo se origina en la preocupaci´on compartida por varios grupos de investigaci´on (del IFLP, del DF (UNLP) y del ETSI Telecomunicaciones, FI, Universidad Polit´ecnica de Madrid) acerca de la obtenci´on de resultados de impedancia en funci´on de la frecuencia, Z(f), confiables y reproducibles. Para lograr esto, debido a que existen en la bibliograf´ýa interpretaciones contradictorias sobre resultados obtenidos en condiciones aparentemente similares, se pretende determinar la influencia que los distintos factores instrumentales (geometr´ýa y material empleado en la construcci´on de los electrodos, interface muestra-electrodo, etc.) tienen en las medidas de Z(f) en el rango de frecuencias entre 20Hz - 1MHz, enmascarando en muchos casos las verdaderas causas de la variaci´on de Z con ´esta y dificultando, por ende, la interpretaci´on de los resultados experimentales. Esta puesta en com´un permitir´a avanzar en el estudio de diversos materiales de potencial aplicaci´on tecnol´ogica que son objeto de investigaci´on en los grupos mencionados. Entre los materiales de inter´es caben destacarse aquellos que presentan una alta constante diel´ectrica,como por ejemplo: CuO, CaCu3Ti4O12, PbxBa1−xHfO3, etc., y que, por lo tanto, tienen potencial aplicaci´on en microelectr´onica. Las medidas fueron realizadas a temperatura ambiente en el rango (20Hz - 1MHz) en un impedanc´ýmetro Agilent 4284 instalado en el laboratorio de Espectroscopia de Impedancia del Dpto. de Qu´ýmica en la UNS y en un Solartron 1260 instalado en el Laboratorio de Espectroscop´ýa de Impedancia del Dpto. de F´ýsica, en la Facultad de Ciencias Exactas de la UNLP variando el tipo de contactos y la relaci´on tama?no de la muestra - tama?no del electrodo empleando electrodos comerciales y otros construidos ad-hoc. lo tanto, tienen potencial aplicaci´on en microelectr´onica. Las medidas fueron realizadas a temperatura ambiente en el rango (20Hz - 1MHz) en un impedanc´ýmetro Agilent 4284 instalado en el laboratorio de Espectroscopia de Impedancia del Dpto. de Qu´ýmica en la UNS y en un Solartron 1260 instalado en el Laboratorio de Espectroscop´ýa de Impedancia del Dpto. de F´ýsica, en la Facultad de Ciencias Exactas de la UNLP variando el tipo de contactos y la relaci´on tama?no de la muestra - tama?no del electrodo empleando electrodos comerciales y otros construidos ad-hoc. lo tanto, tienen potencial aplicaci´on en microelectr´onica. Las medidas fueron realizadas a temperatura ambiente en el rango (20Hz - 1MHz) en un impedanc´ýmetro Agilent 4284 instalado en el laboratorio de Espectroscopia de Impedancia del Dpto. de Qu´ýmica en la UNS y en un Solartron 1260 instalado en el Laboratorio de Espectroscop´ýa de Impedancia del Dpto. de F´ýsica, en la Facultad de Ciencias Exactas de la UNLP variando el tipo de contactos y la relaci´on tama?no de la muestra - tama?no del electrodo empleando electrodos comerciales y otros construidos ad-hoc. lo tanto, tienen potencial aplicaci´on en microelectr´onica. Las medidas fueron realizadas a temperatura ambiente en el rango (20Hz - 1MHz) en un impedanc´ýmetro Agilent 4284 instalado en el laboratorio de Espectroscopia de Impedancia del Dpto. de Qu´ýmica en la UNS y en un Solartron 1260 instalado en el Laboratorio de Espectroscop´ýa de Impedancia del Dpto. de F´ýsica, en la Facultad de Ciencias Exactas de la UNLP variando el tipo de contactos y la relaci´on tama?no de la muestra - tama?no del electrodo empleando electrodos comerciales y otros construidos ad-hoc. lo tanto, tienen potencial aplicaci´on en microelectr´onica. Las medidas fueron realizadas a temperatura ambiente en el rango (20Hz - 1MHz) en un impedanc´ýmetro Agilent 4284 instalado en el laboratorio de Espectroscopia de Impedancia del Dpto. de Qu´ýmica en la UNS y en un Solartron 1260 instalado en el Laboratorio de Espectroscop´ýa de Impedancia del Dpto. de F´ýsica, en la Facultad de Ciencias Exactas de la UNLP variando el tipo de contactos y la relaci´on tama?no de la muestra - tama?no del electrodo empleando electrodos comerciales y otros construidos ad-hoc. lo tanto, tienen potencial aplicaci´on en microelectr´onica. Las medidas fueron realizadas a temperatura ambiente en el rango (20Hz - 1MHz) en un impedanc´ýmetro Agilent 4284 instalado en el laboratorio de Espectroscopia de Impedancia del Dpto. de Qu´ýmica en la UNS y en un Solartron 1260 instalado en el Laboratorio de Espectroscop´ýa de Impedancia del Dpto. de F´ýsica, en la Facultad de Ciencias Exactas de la UNLP variando el tipo de contactos y la relaci´on tama?no de la muestra - tama?no del electrodo empleando electrodos comerciales y otros construidos ad-hoc. lo tanto, tienen potencial aplicaci´on en microelectr´onica. Las medidas fueron realizadas a temperatura ambiente en el rango (20Hz - 1MHz) en un impedanc´ýmetro Agilent 4284 instalado en el laboratorio de Espectroscopia de Impedancia del Dpto. de Qu´ýmica en la UNS y en un Solartron 1260 instalado en el Laboratorio de Espectroscop´ýa de Impedancia del Dpto. de F´ýsica, en la Facultad de Ciencias Exactas de la UNLP variando el tipo de contactos y la relaci´on tama?no de la muestra - tama?no del electrodo empleando electrodos comerciales y otros construidos ad-hoc. 3Ti4O12, PbxBa1−xHfO3, etc., y que, por lo tanto, tienen potencial aplicaci´on en microelectr´onica. Las medidas fueron realizadas a temperatura ambiente en el rango (20Hz - 1MHz) en un impedanc´ýmetro Agilent 4284 instalado en el laboratorio de Espectroscopia de Impedancia del Dpto. de Qu´ýmica en la UNS y en un Solartron 1260 instalado en el Laboratorio de Espectroscop´ýa de Impedancia del Dpto. de F´ýsica, en la Facultad de Ciencias Exactas de la UNLP variando el tipo de contactos y la relaci´on tama?no de la muestra - tama?no del electrodo empleando electrodos comerciales y otros construidos ad-hoc.