PERSONAL DE APOYO
JUNCIEL Luis Daniel
congresos y reuniones científicas
Título:
Caracterización de un sistema de adquisición automática de medidas de resistividad en función de la temperatura
Autor/es:
L. D. JUNCIEL; P. PAUS; L. CADIERNO
Lugar:
Buenos Aires
Reunión:
Congreso; 85ta Reunión de la Asociación de Física Argentina, Septiembre de 2000; 2000
Institución organizadora:
Asociación de Física Argentina
Resumen:
CARACTERIZACIÓN DE UN SISTEMA DE ADQUISICIÓN AUTOMÁTICA DE MEDIDAS DE RESISTIVIDAD EN FUNCIÓN DE LA TEMPERATURA L. D. Junciel 1,3, P. Paus 1-2 , Lucas E. Cadierno 1-2 1        IFLP, Departamento de Física, Universidad Nacional de La Plata 2        LANADI, Departamento de Física, Universidad Nacional de La Plata 3        Facultad de Ingeniería, Dpto. de Electrotecnia, Universidad Nacional de La Plata junciel@venus.fisica.unlp.edu.ar Se presenta la caracterización de un sistema apto para medir y registrar automáticamente la dependencia de la resistividad en función de la temperatura entre 15 y 300 K. El sistema de medición y adquisición está formado por un criógeno de ciclo cerrado de helio con control de temperatura, un equipo de vacío, una fuente de corriente continua y un multímetro digital de alta resolución. La adquisición y control de los datos de todos los instrumentos se realiza mediante una computadora personal provista de una placa de norma IEEE-488. La calibración fue realizada contrastando las lecturas de cada uno de los instrumentos de medición con muestras patrones. La caracterización realizada permitió determinar la capacidad del arreglo instrumental desarrollado para lograr medidas confiables, con errores menores que el 1 %, de valores de resistividad comprendidos entre .01 y 1 MW.