IFIS - LITORAL   24734
INSTITUTO DE FISICA DEL LITORAL
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Análisis del secado de pinturas mediante interferometría holográfi ca y speckle dinámico
Autor/es:
N. BUDINI; C. MULONE; F. M. VINCITORIO
Lugar:
Merlo, San Luis
Reunión:
Congreso; 100º Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina; 2015
Resumen:
Los recubrimientos con pinturas son utilizados para diversos propósitos en una variedad de aplicaciones domésticas, científicas e industriales. Las pinturas sirven para mejorar la apariencia, la durabilidad, la resistencia, para protección contra la corrosión, etc., de muchos materiales. La habilidad de caracterizar el proceso de secado de recubrimientos de pintura luego de su aplicación resulta relevante en el contexto de su fabricación, aplicación y optimización de calidad. La interferometría holográfica digital es una técnica que consiste en la comparación de dos o más hologramas. Esto se realiza mediante algoritmos computacionales que permiten reconstruir numéricamente los hologramas para extraer la información de fase contenida en ellos. Los valores de fase obtenidos son proporcionales al grado de deformación o de desplazamiento punto a punto del objeto bajo estudio. Por otro lado, la técnica de speckle dinámico se basa en el análisis de la variación temporal del patrón de speckle que recubre el objeto, al ser éste iluminado con luz coherente. El grado de variación del patrón de speckle, o actividad speckle, observado sobre un objeto se correlaciona con las variaciones de algún parámetro físico característico de su superficie (forma, índice de refracción, etc.). En este trabajo se implementaron ambas técnicas para analizar la evolución del proceso de secado de una pintura comercial, del tipo esmalte sintético. De esta manera se pudo, por un lado, hacer una predicción relativamente rápida del tiempo de secado de la pintura y, por otro, analizar las variaciones morfológicas del recubrimiento a nivel interferométrico (es decir, a escalas del orden o por debajo de la longitud de onda utilizada).
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