CARACTERIZACIÓN DE FASES ACTIVAS EN ARCILLAS PILAREADAS POR ESPECTROSCOPIA FOTOELECTRÓNICA DE RAYOS X

S. L. SPAGNOTTO; G. AMAYA; M. NAZZARRO; K. SAPAG

Bahia Blanca

Congreso; 3er Encuentro de Física y Química de Superficies; 2006

La técnica de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS), también conocida por ESCA, es una de las principales técnicas de análisis de materiales ya que permite obtener información sobre la composición elemental en la superficie de la muestra y además, sobre el estado químico de dichos elementos. En este trabajo se muestra la caracterización por XPS de la fase activa de distintos materiales sintetizados en nuestro laboratorio, complementando análisis realizados por otras técnicas como difracción de Rayos X, análisis térmicos y adsorción-desorción de nitrógeno. Los materiales escogidos, son las llamadas arcillas pilareadas, de utilidad como adsorbentes y catalizadores por sus propiedades fisicoquímicas: textura micro-mesoporosa, elevada superficie específica, acidez superficial, estabilidad térmica y química. Para la síntesis de estos materiales, se utilizó como material de partida un filosilicato natural, rico en montmorillonita, proveniente de la Provincia de San Juan. Aprovechando su capacidad de intercambio iónico, se le intercalaron oligocationes de Al, formando arcillas pilareadas, donde se varió distintas relaciones, OH/Al, cantidad de Al3+, estudiando el efecto sobre el material final..La técnica de XPS no sólo nos brinda información complementaria a las otras técnicas, sino que además nos corrobora algunos de los resultados especulados por el proceso de síntesis llevado a cabo