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La pasividad de los aceros inoxidables es atribuida a la formación de una película protectora, conformada por óxidos, sobre la superficie del metal. Esta película posee propiedades semiconductoras y es de importancia para la comprensión de los fenómenos de corrosión. El objetivo del trabajo es estudiar las películas pasivas formadas en aceros inoxidables solidificados unidireccionalmente, Fe-18Cr-10Ni-2Mo-0,08C (muestra A), Fe-18Cr-14Ni-8Mo-0,03C (muestra C) y Fe-18Cr-10Ni-8Mo-0,08C (muestra F), y determinar la influencia de la variación de la estructura (equiaxial, columnar y con transición de columnar a equiaxial-TCE) en la resistencia a la corrosión, así como investigar la relación entre la resistencia a la corrosión y el espaciamiento dendrítico secundario del material. Para ello se emplean técnicas potenciodinámicas y galvanostáticas, análisis de Mott Schottky y espectroscopía de impedancia electroquímica. Las medidas se realizaron en solución de Na2HPO4 0,5 M (pH 9,2), a una temperatura de 25º  1ºC. Las medidas potenciodinámicas indican una región pasiva y un máximo de corriente en la región transpasiva. Las medidas galvanostáticas realizadas sobre películas pasivas formadas previamente indican dos amesetamientos de potencial, debido al óxido de cromo y óxido de hierro, del cual surgen dos tiempos de transición. El mayor espesor de óxido de hierro se encuentra en las estructuras equiaxial de la muestra F, que posee el menor espaciamiento dendrítico respecto de los otras dos muestras teniendo en cuenta la misma estructura. El análisis de Mott Schottky muestra que la película pasiva se comporta como un semiconductor tipo n en el rango de potenciales de -0,45 V a 0 V, con una densidad de donores que varía de acuerdo a la composición del acero inoxidable. También se observa que la densidad de donores varía de acuerdo al tipo de estructura para un mismo material.