Crecimiento y caracterización de Nanohilos de óxido de cinc

EDUARDO HEREDIA; MARIO BIANCHETTI; HORACIO CÁNEPA; RAÚL D´ELÍA; CLAUDIA BOJORGE; WALSÖE DE RECA

Ciudad de Buenos Aires

Jornada; Jornadas Nano Citedef 2016; 2016

Se obtuvieron películas de ZnO dopado con galio partiendo de una solución precursora de acetato de cinc dihidratado con 5% de nitrato de galio. Como solvente se utilizó metoxietanol y etanolamina. Se sometió la solución a un baño térmico con agitador a 60°C durante 2 hs y se la dejó envejecer por 1 día. Luego la solución se depositó en varias capas sobre sustratos de sílica utilizando la técnica de spin coating. Para consolidar el material depositado se realizó un proceso de secado a 200°C entre capa y capa. Las muestras recibieron un tratamiento térmico final a 450°C durante 3 hs para lograr la cristalización del material.Se realizó difracción de rayos X (XD) con un difractómetro convencional (CAC - CNEA). La forma, disposición y dimensiones de los nanohilos pudieron ser verificadas a partir de las micrografías obtenidas por Microscopía Electrónica de Barrido (FESEM) en el Centro de Microscopías Avanzadas, FCEyN, UBA.Las muestras también fueron caracterizadas por las técnicas de Reflectividad de rayos X (XR) y Dispersión a Bajos Ángulos en Incidencia Rasante (GISAXS) en la línea XRD2 del Laboratorio Nacional de Luz Sincrotrón (LNLS), Campinas, Brasil. Mediante la técnica de XR se pudo determinar la densidad promedio de los nanohilos, mientras que a través del análisis de imágenes GISAXS se pudo obtener información sobre las dimensiones y dispersión de los mismos.