Estudio de Superficies a Partir de Pares Estéreos en Microscopía Electrónica

EZEQUIEL PONZ; M. SÁNCHEZ; MARCELO ANGEL CAPPELLETTI; J.L. LADAGA; R.D. BONETTO

San Carlos de Bariloche, Rio Negro

Workshop; 88ª Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina; 2003

Asociación Física Argentina

Muchas superficies físicas en alguna escala presentan rugosidad. Una ley de escala relaciona usualmente una escala macroscópica observable involucrando una cantidad estimable y una escala microscópica a la cual las fluctuaciones de la muestra son difíciles de observar directamente. Ejemplos del uso de leyes de escala para estimación incluyen las relaciones log-log empleadas para construir estimadores vía el variograma. Nosotros hemos desarrollado algunos de estos estimadores utilizando la textura de imágenes bidimensionales obtenidas con el microscopio electrónico de barrido. No obstante, la obtención de datos de altura de dicha superficie permitiría una mejor evaluación de la rugosidad real. Un par de imágenes estéreo es requerido para obtener un mapa denso de estos datos de altura. En este trabajo, nosotros implementamos un método que utiliza programación dinámica para encontrar, en forma robusta, la óptima correlación cruzada de datos en el par estéreo y para aumentar la velocidad de cálculo. El propósito final de esta investigación es poder comprobar que existe una relación entre estimadores construidos vía el variograma, obtenidos a partir de la textura de una única imagen y aquellos obtenidos a partir de estos datos de altura.