Estudio de los Efectos de la Radiación Solar en Dispositivos Electrónicos

MARCELO ANGEL CAPPELLETTI; ULISES URCOLA; EITEL LEOPOLDO PELTZER Y BLANCÁ

La Plata, Buenos Aires

Workshop; 90ª Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina; 2005

Asociación Física Argentina

Los dispositivos electrónicos emplazados en sistemas en órbita alrededor de nuestro planeta, tienen su confiabilidad constantemente amenazada por los efectos de la radiación propia del medio ambiente en que se mueven. La principal fuente de radiación comprende, tanto las partículas atrapadas en los cinturones de Van Allen, como aquellas que provienen del Sol y del cosmos. Estas partículas incluyen neutrones, electrones, protones e iones más pesados. Existen dos tipos de daños que los dispositivos semiconductores sufren cuando son sometidos a radiación: daños por ionización y por desplazamiento. En este trabajo, continuamos con la tarea iniciada en trabajos de investigación previos sobre el comportamiento de fotodiodos PIN expuestos a la radiación espacial. El análisis se lleva a cabo por medio de algoritmos numéricos, modelado y simulación, que describen a los dispositivos a través de ecuaciones que representan los procesos físicos que en ellos ocurren. La resolución de las ecuaciones permite, bajo diferentes condiciones de operación y de funcionamiento, reproducir resultados experimentales, como también obtener una predicción de las características eléctricas del dispositivo irradiado. Hemos logrado desarrollar una ecuación, relacionando los casos tratados, que nos permite aproximar su comportamiento.