ESTUDIO DE LA APLICACION DE COMPASS EN LA RESOLUCION DE MUESTRAS COMPLEJAS CONTENIENDO ELEMENTOS CON FUERTE OVERLAP

LASSA, M. SILVINA; FIDEL A. ROIG; STADLER, T.

ACTA MICROSCOPICA

Comité Interamericano de Sociedades de Microscopía Electrónica

Año: 2012 p. 181 - 182

0798-4545

?Compass?, es una herramienta que se emplea para resolver muestras complejas y permite obtenerinformación sobre elementos que presentan una fuerte superposición de señales, ya sea porcoincidencia de sus espectros o por alto background. A través de algoritmos estadísticos, elsoftware puede identificar la localización de la imagen que tiene la misma ?huella digital? yrelacionarla con los datos que conforman el espectro, obteniendo como resultado mapas espectraleso espaciales más simples de diferentes componentes. Para los estudios se utilizó una muestra compleja que contiene entre otros elementos el Fe, Mn y F,y que presentan un fuerte overlap dado que la línea K del Fe (6,400keV) se superpone con la del Mn (5.895 keV), y la L y 1 del Fe (0,704 keV), con la K consiste en determinar, con esta herramienta, si los tres elementos (Fe, Mn y F), se encuentranrealmente presentes o no en la muestra.