Estudio del Patrón de Interferencia de la Fluorescencia de Rayos X en TXRF y GEXRF

PÉREZ R.D.; SÁNCHEZ H.J.; RUBIO M.

Huerta Grande

Congreso; VI Seminario Latinoamericano de Análisis por Técnicas de Rayos X - SARX98; 1998

Durante la propagación de rayos X a ángulos rasantes sobre medios estratificados se pro- ducen efectos de interferencia por las múltiples reflexiones originadas en las interfases que componen al medio. Este fenómeno afecta a la intensidad de fluorescencia en TXRF y GEXRF, dando lugar a un patrón de interferencia característico. La descripción teórica de este efecto se consigue mediante modelos basados en la teoría de la propagación de ondas electromagéticas planas sobre medios estratificados. En este trabajo primeramente se tratará este problema general, para luego aplicar los resultados obtenidos al estudio de la intensidad de fluorescencia en TXRF y GEXRF. El estudio se basa en el desarrollo de aproximaciones a la solución del problema general, que facilitan la interpretación del comportamiento angular de la fluorescencia de rayos X en ambas técnicas. Los cálculos analíticos que se desarrollan utilizan como punto de partida el formalismo matricial alternativo que ha sido introducido recientemente para atacar este problema.