Transporte eléctrico y superconductividad en películas delgadas de Fe1−y Se

M. V. ALE CRIVILLERO; M. L. AMIGÓ; D. G. FRANCO; G. NIEVA; N. HABERKORN; J. GUIMPEL

Merlo

Congreso; 100a Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina; 2015

Asociación Física Argentina

Los reportes de superconductividad en pnicogenuros y calcogenuros basados en Fe, iniciados en el año 2008 [1-2], han despertado un gran interés en la comunidad científica. Dentro de este campo, el crecimiento de láminas delgadas deFe1−ySe1−xTex atrajo mucha atención ya que la temperatura crítica en el caso de x = 0,5 aumenta, Tc 20K, respecto a la del bulk, Tc = 16K, debido a la tensión residual [3]. Incluso, en el límite de capas de Fe1−ySe tan finas como unacelda unidad se ha reportado un aumento considerable de la temperatura crítica, Tc 70K [4]. Una de las dificultades en el crecimiento de Fe1−ySe es el control de la composición y la homogeneidad, ya que la fase superconductora se encuentra en un estrecho rango de composici´on en el diagrama de fases. En este trabajo, hemos fabricado mediante la técnica de sputtering láminas delgadas superconductoras de Fe1−ySe. Con el objetivo de estudiar la influencia de los condiciones de crecimiento (temperatura del sustrato, tipo de sustrato, distancia blanco-sustrato, presión, espesor, etc) sobre las propiedades superconductoras (temperatura crítica, campo crítico, volumen superconductor, etc) y optimizar las mismas, se caracterizaron las películas delgadas con distintas técnicas (XRD, EDS, mediciones magnéticas y de transporte). Para las muestras donde se consiguieron las mejores propiedades superconductoras, se realizó un estudio detallado de las propiedades de transporte. A partir de mediciones de resistividad en función de la temperatura con campos magnéticos aplicados de hasta 16T se obtuvieron los valores de Hc2 y Hirr en la dirección paralela y perpendicular al plano de las muestras. También se presentarán mediciones de efecto Hall y dependencias angulares de la resistividad en el estado normal.[1] Kamihara et al, J. Am. Chem. Soc 130, (2008)[2] Hsu et al, Proc. Nat. Acad. Sci. 105, 14262 (2008)[3] Bellingeri et al, Appl. Phys. Lett. 96, 102512 (2010)[4] Zhang et al, Phys. Rev. B 89, 060506(R) (2014)