Refinamiento de fracciones de línea L para Yb, Hf y Ta usando radiación de sincrotrón

A. CARRERAS; J. TRINCAVELLI; R. BONETTO; G. CASTELLANO

Nova Friburgo RJ, Brasil

Conferencia; VII Seminario Latinoamericano de Análisis por Técnicas de Rayos X (SARX 2002); 2002

Universidad Federal de Río de Janeiro - UNICAMP

Se obtienen probabilidades de transición hacia la capa L para Yb, Hf y Ta, mediante un método de refinamiento de parámetros experimentales y atómicos en FRX. Se utiliza una función analítica para describir la contribución del fondo y de los picos característicos, así como distintos efectos de la detección. El proceso de refinamiento consiste en minimizar diferencias entre el espectro experimental y el predicho a través de la optimización de los parámetros involucrados en la expresión analítica. Los espectros fueron obtenidos en un sistema dispersivo en energías, con haces incidentes monocromáticos de radiación de sincrotrón. Los resultados muestran un buen acuerdo con datos de la literatura.