Refinamiento de probabilidades de transición hacia la capa K con microsonda de electrones

G. CASTELLANO; R. BONETTO; J. TRINCAVELLI; M. VASCONCELLOS; C. CAMPOS

São Pedro, Brasil

Conferencia; VII Seminario Latinoamericano de Análisis por Técnicas de Rayos X (SARX 2000); 2000

Instituto de Química - UNICAMP

<!-- @page { size: 8.5in 11in; margin: 0.79in } P { margin-bottom: 0.08in } --> Se aplicó un método para el refinamiento de parámetros atómicos y experimentales para obtener razones de intensidades Kα/(Kβ+Kα) mediante microsonda de electrones. Esta metodología, ampliamente utilizada en difracción de rayos x, se manifiesta como una herramienta poderosa también en EPMA. El método consiste en minimizar las diferencias entre un espectro experimental de rayos x y una función propuesta para tener en cuenta el bremsstrahlung y los picos característicos emitidos en la muestra analizada, así como características de la detección. En este trabajo, el método se utiliza para determinar probabilidades relativas de transición a vacancias en la capa K. Se aplica esta rutina a 14 elementos de número atómico entre 20 y 42. Los resultados obtenidos muestran un buen acuerdo con datos teóricos y experimentales para razones Kα/(Kβ+Kα). Por otro lado, se comparan intensidades relativas para las líneas Kα1, Kα2,Kβ1 y Kβ2 con datos experimentales, mostrando un comportamiento similar.