ROL DE LOS DEFECTOS ESTRUCTURALES EN LAS PROPIEDADES OPTO-MAGNÉTICAS DE PELÍCULAS DELGADAS DE ZnO.

ODIN VAZQUEZ ROBAINA; C.E RODRÍGUEZ TORRES; A.F CABRERA; A. FUNDORA CRUZ; F. SOLOIS- POMAR

LA PLATA

Workshop; NANO Y-TEC; 2018

El ferromagnetismo inducido por defectos en nanoestructuras de óxidos semiconductores es un tema de investigación de vigente interés debido a sus potenciales aplicaciones en el campo de la espintrónica [1]. En particular, en el óxido de Zn (ZnO) se ha reportado ferromagnetismo a temperatura ambiente en sistemas nanoestructurados [2, 3]. Partiendo del estudio de magnetismo en polvos de ZnO tratados en atmósferas de H2 y vacío, proponemos la existencia de una correlación entre defectos estructurales, parámetros de crecimiento y propiedades magneto-ópticas en capas nanoestructuras de ZnO (nanorods).Mediante espectrometría UV-Vis determinamos el ancho de la banda prohibida (Eg) de las capas empleando el procedimiento ASF (absorption spectrum fitting) [4]. Los valores obtenidos para Eg indican que al aumentar la concentración de O2 se obtienen resultados más cercanos al teórico para el ZnO (Eg ≈ 3.30 eV). Inferimos que la formación de vacancias. cuando disminuye la presión parcial de oxígeno utilizada en la fabricación de las películas. genera un mayor número de niveles de impurezas en el ZnO. A partir de las observaciones previas y medidas de AFM de las nanoestructuras, proponemos la existencia de una relación directa entre los métodos de depósito de las capas y la formación de defectos estructurales en el origen del ferromagnetismo en las películas delgadas de ZnO.