IMIT   21220
INSTITUTO DE MODELADO E INNOVACION TECNOLOGICA
Unidad Ejecutora - UE
artículos
Título:
Estudio elipsométrico de películas semitransparentes de plata depositadas sobre vidrio
Autor/es:
V.J. TORANZOS; J.O. ZERBINO; A. MALTZ; G. P. ORTIZ
Revista:
Avances en Ciencias e Ingenieria
Editorial:
Executive Business School
Referencias:
Lugar: Santiago de Chile; Año: 2014 vol. 5 p. 67 - 75
ISSN:
0718-8706
Resumen:
Utilizando elipsometría, se caracteriza la estructura de la película mediante los índices ópticos n, k (región visible, 450 nm < long. de onda < 580 nm) y el espesor (15 < d < 35 nm). Los índices ópticos varían con la cantidad de plata depositada obteniéndose para los menores depósitos índices efectivos 1.0 < n < 1.8 y 1.6 < k < 2.6 que corresponden, de acuerdo a los modelos utilizados, a una fracción volumétrica entre 0.35 y 0.5 de plata en aire. Al aumentar la fracción volumétrica de plata se observa primeramente una disminución del espesor óptico efectivo de la película y para mayor cantidad de plata depositada se observa un aumento del espesor con índices que tienden a valores más próximos a los de la plata maciza. Se comparan los índices ópticos obtenidos con los que se obtienen mediante las teorías de medio efectivo.