INVESTIGADORES
ALVAREZ Vera Alejandra
congresos y reuniones científicas
Título:
Estrategias y métodos para obtener imágenes de microscopía electrónica de barrido (SEM) de sistemas poliméricos.
Autor/es:
VANESA MUÑOZ; MARÍA PAULA GUARÁS; ROMINA OLLIER; JIMENA GONZÁLEZ; VERA ALVAREZ
Lugar:
Bariloche
Reunión:
Congreso; 4to Congreso Argentino de Microscopía ? SAMIC; 2016
Resumen:
Se sabe que los polímeros son materiales blandos, viscoelásticos y que poseen propiedades mecánicas que dependen de la cadena polimérica, del tipo de procesamiento utilizado para obtener el material final, del entrecruzamiento o no del mismo, del agregado de modificadores, y muchas otras variables más. Sin embargo, todos los polímeros sufren deformaciones mecánicas con el calor y el corte, por lo que los hace materiales difíciles de procesar para obtener micrografías de su estructura. En este trabajo se desarrollan y describen tres estrategias utilizadas para la observación de tres materiales poliméricos distintos con características particulares.Los materiales que se utilizaron fueron hidrogeles de polivinilalcohol (PVA), almidón termoplástico (TPS) con policaprolactona (PCL) y microcápsulas de poli (melamina-formaldehido)/epoxi. Los hidrogeles se prepararon utilizando soluciones de PVA al 15% en agua destilada a 85 °C durante 4 horas bajo agitación constante hasta disolver completamente el polímero. Una vez que las soluciones se encontraban a temperatura ambiente, se colocaron en moldes antiadherentes, y se llevaron a un freezer (-18 °C) durante 1 hora, luego se dejaron a temperatura ambiente (25 °C) por 1 hora; este ciclo de congelamiento/descongelamiento se realizó 4 veces, obteniéndose así los criogeles [1]. El método que se siguió para la preparación de la muestra para microscopía es: primeramente los geles fueron hinchados en agua durante 24 horas y liofilizados, con extremo cuidado para evitar el colapso de la red porosa. Por último fueron criofracturados utilizando N2 líquido y recubiertos con Au/Pd para la obtención de las imágenes SEM en un equipo JEOL JSM-6460 LV.