Método de evaluación de parámetros para análisis mediante PIXE

TABATHA RODRÍGUEZ; PABLO PÉREZ; A. P. LAMBERTI BERTOL; MARCOS VASCONCELLOS; JORGE TRINCAVELLI

Bariloche

Congreso; 98ª Reunión Nacional de Física; 2013

Asociación de Física Argentina

Se presenta un método de refinamiento de parámetros atómicos y experimentales para el ajuste de un espectro de rayos x inducido por protones. Este método, implementado en el programa PAMPA (Parameter Assesment Method for PIXE Analysis), consiste en minimizar la funciónChi2 =1/(N-P) Sum_i (I /tilde_i - I_i )²/I_i  ,   (1)que representa las diferencias cuadráticas entre un espectro de rayos X experimental y una función propuesta, que tiene en cuenta los picos característicos de la muestra correspondiente y un modelo para la radiación de fondo [1]. Esta función propuesta esI_i = B(E_i ) + Sum_{j,q} P_{j,q} G_{j,q} (E_i ) ,  (2)donde B es la radiación de fondo, G es el perfil gaussiano de los picos y P_{j,q} es la intensidad de la linea q del elemento j, que está dada por P_{j,q}={N_p N_{av} sigma_j (E_i ) om_j b_{j,q} epsilon_{j,q} Omega/(4 pi) C_j rho t}/{A_j cos a},(3)donde N_p es el número de protones, sigma_j es la sección eficaz de ionización del elemento j, om_j es la producción de fluorescencia del elemento j, b_{j,q} es la probabilidad relativa de transición de la linea q del elemento j, epsilon_{j,q} es la eficiencia del detector para la energía de la línea q del elemento j, C_j es la concentración másica del elemento j, rho t es el espesor másico de la muestra, A_j es la masa atómica del elemento j.Este método permite analizar espectros de muestras delgadas ya sean puras o compuestos, autosoportados o depositadas sobre un sustrato. En este trabajo se analizaron blancos delgados de MgF_2, SiO y KCl, depositados sobre Mylar.[1] Bremsstrahlung in carbon thick targets by proton incidence. P.D. Pérez, A.P.L. Bertol, T.P. Rodríguez, M.A.Z. Vasconcellos, J.C. Trincavelli. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, In Press.