Difracción de rayos X en láminas con memoria de forma : Efeto del espesor.

ESPINOZA C.; CONDÓ, A.; GUIMPEL J.; ANDRADE-GAMBOA J.

La Plata

Encuentro; XI Reunión Anual de la Asociación Argentina de Cristalografía; 2015

Las aleaciones con memoria de forma (SMA) muestran cambios reversibles bajo requerimientos de temperatura y tensión. Estos cambios son posibles debido a la presencia de la transformación martensítica entre una fase austenítica de alta temperatura y una fase martensítica de baja temperatura. En la transformación martensítica ocurre un cambio de la estructura cristalina del material, sin difusión de átomos, y permite recuperar la forma original de la austenita luego de ser deformada en martensita por reorientación de variantes. El efecto memoria de forma se presenta en aleaciones Ni-Ti y aleaciones base Cu, entre otras. Esta propiedad en láminas delgadas es de interés tecnológico debido a sus posibles aplicaciones en microactuadores. En particular, se estudiaron láminas de Cu-Al-Ni crecidas por pulverización catódica para analizar el efecto de la microestructura sobre el efecto memoria de forma. En el presente trabajo se fabricaron láminas de Cu-Al-Ni de diferentes espesores crecidas mediante pulverización catódica sobre sustrato Si(100). La textura de las láminas fue estudiada mediante difracción de rayos X (XRD): Philips PW1820 y Panalytical Empyrean y microscopía electrónica de transmisión (TEM): Philips CM200UT. Se mostrará el efecto del espesor de las láminas en los difractogramas de rayos-X.