INVESTIGADORES
SAPAG Manuel Karim
artículos
Título:
ESPECTROSCOPÍA FOTOELECTRÓNICA DE RAYOS-X (XPS) EN LA CARACTERIZACIÓN DE MATERIALES POROSOS A PARTIR DE ARCILLAS NATURALES
Autor/es:
S. SPAGNOTTO, C. SOLAR, M.S. NAZZARRO, K. SAPAG
Revista:
Anales Asociación Física Argentina
Editorial:
Asociación Física Argentina
Referencias:
Lugar: Tandil; Año: 2008 vol. 20 p. 127 - 133
ISSN:
0327-358X
Resumen:
El desarrollo de nuevos materiales que presenten características físico-químicas adecuadas para ser utilizados en adsorción y catálisis es un tema de interés actual. Entre estos materiales se encuentran las arcillas pilareadas (PILCs), las que se obtienen mediante la sustitución de los cationes intercambiables e interlaminares de las arcillas tipo esmectita, por grandes oligocationes de metales, fácilmente hidrolizables, los que son anclados entre las láminas por efecto térmico. Esta modificación de la arcillas naturales producen una serie de cambios texturales y estructurales que generalmente mejoran sus propiedades como adsorbentes y catalizadores para determinadas aplicaciones.
En este trabajo se presenta la caracterización de PILCs de aluminio sintetizados en el laboratorio, utilizando como material de partida arcilla natural de la provincia de San Juan, Argentina. Teniendo en cuenta los resultados de caracterización con las técnicas habituales utilizadas para seguir el proceso de síntesis como DRX, ATG, ATD, Adsorción-Desorción de N2 y Espectroscopía IR, se utiliza una técnica específicamente superficial como lo es la espectroscopía fotoelectrónica de Rayos-X, obteniendo información adicional del proceso de síntesis, mostrando el potencial de esta técnica en la caracterización de estos materiales.
