INVESTIGADORES
SANCHEZ Esteban Alejandro
congresos y reuniones científicas
Título:
Técnicas de dispersión de átomos aplicadas al estudio de cristalografía de superficies
Autor/es:
V. BATTELINO PERCELLO; E.A. SANCHEZ
Lugar:
La Plata
Reunión:
Congreso; 102 Reunión Nacional de Física - AFA2017; 2017
Resumen:
La espectroscopía de dispersión de iones (ISS: Ion Scattering Spectrometry) y emisión de átomos del blanco(DRS: Direct Recoiling Spectrometry), detectados por la técnica de tiempo de vuelo (TOF: Time of ight)[1] y la técnica de difracción de átomos rasantes a altas energías (GIFAD: Grazing Incidence Fast Atom Diffraction)[1] consisten en medir las partículas dispersadas o los átomos emitidos al incidir con un haz monocromático de alta energía sobre una muestra. Ambas se basan en la dispersión elástica de átomos, pero la diferencia es que la segunda requiere de un haz coherente, lo que se logra cuando se trabaja con ángulos de incidencia muy rasantes (
