Resonancia de plasmón superficial (SPR): sensor de contaminantes acuosos

JESICA M. J. SANTILLÁN; DAVID MUÑETÓN ARBOLEDA; DANIEL C. SCHINCA ; LUCÍA B. SCAFFARDI

Corrientes

Taller; XI Taller de Óptica y Fotofísica (TOPFOT) - VI Encuentro de Estudiantes de Óptica y Fotofísica (EEOF); 2015

Universidad Nacional del Nordeste (UNNE)

Resonancia de Plasmón Superficial (SPR): sensor de contaminantes acuosos Jesica M. J. Santillán1,2, David Muñetón Arboleda1, Daniel C. Schinca1,3 y Lucía B. Scaffardi1,3 1 Centro de Investigaciones Ópticas (CIOp), (CONICET La Plata - CIC), La Plata, Argentina. 2 Facultad de Ciencias Exactas y Naturales, UNCa, Catamarca, Argentina. 3 Departamento de Ciencias Básicas, Facultad de Ingeniería, UNLP, Argentina. Hoy en día, el desarrollo de sensores ópticos basados en SPR ha despertado gran interés por sus importantes aplicaciones en áreas de la biomedicina, la bioquímica y el medio ambiente. La técnica es de tipo diferencial y está basada en los cambios producidos en la posición angular del mínimo de reflectancia (en reflexión total interna) debido a los plasmones superficiales generados en la interfase dieléctrico-metal cuando existe una variación en los índices de refracción del medio sensado. En este trabajo se estudia la variación de las características de la resonancia plasmónica en una configuración tipo Kretschmann cuando la capa activa se expone a diferentes concentraciones de contaminantes del agua tales como cloruro de manganeso (II) (MnCl2), cloruro de níquel (II) (NiCl2), nitrato de cobalto (II) (Co(NO3)2) y nitrato de cobre (II) (Cu(NO3)2). El corrimiento del mínimo de reflectancia puede utilizarse para el sensado de dichos contaminantes acuosos. La variación del índice de refracción de las diferentes concentraciones de los contaminantes es calculado con la teoría de la función dieléctrica efectiva de Bruggeman para una longitud de onda específica, analizando el cambio del índice de refracción del medio acuoso en función de la relación porcentual del contaminante.