DEPENDENCIA CON EL ESPESOR DE LA CONSTANTE DIELÉCTRICA, CONSTANTE DE AMORTIGUAMIENTO Y FRECUENCIA DE PLASMA DE PELÍCULAS ULTRADELGADAS DE Ag

MENDOZA-HERRERA, LUIS J.; TEBALDI, MYRIAN C.; SCHINCA, DANIEL C.; SCAFFARDI, LUCÍA B.

Córdoba

Congreso; XXI Encuentro de superficies y materiales nanoestructurados, NANO 2022; 2022

XXI Encuentro de superficies y materiales nanoestructurados, NANO 2022

Los materiales metálicos en la nanoescala, como nanopartículas, nano hilos y películas delgadas, debido a sus peculiares propiedades ópticas, tienen un papel cada vez más relevante en ramas como la óptica y la fotónica. Las aplicaciones se encuentran en diversas ramas como la biología y medicina [1, 2], celdas solares [3], sensores plasmónicos y guías de ondas plasmónicas [4-5]. Estas aplicaciones se basan en las propiedades ópticas distintivas en escala nanométrica, que a su vez se basan en el conocimiento de las propiedades de la función dieléctrica en función del tamaño. En este trabajo se aplica un método desarrollado en nuestro grupo [6, 7] basado en el modelo de Drude para determinar por primera vez una expresión para la dependencia de la constante de amortiguamiento y la frecuencia del plasma con el espesor de la película (Figura 1), tomando los valores experimentales del índice de refracción de películas delgadas de Ag para varios espesores medidos por Zhao et al. [8]. Finalmente se calcula la función dieléctrica compleja de Ag para diferentes espesores (d) del film.