Films delgados de BaTiO3 sobre Pt/Si: crecimiento por ablación láser, caracterización y propiedades de memoria resistiva.

ROMÁN, A.; STEREN, L.; SALEH MEDINA, L.M.; LEVY, P.; RENGIFO, M.; NEGRI, RICARDO MARTÍN; RUBI, D.

CABA

Simposio; Nano 2016; 2016

Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. UBA

Se crecieron por ablación láser films delgados de la perovskita BaTiO3 sobre substratos conductores de Pt/Si. Los films resultaron policristalinos y se estudió la correlación entre los parámetros de crecimiento, su morfología superficial y sus propiedades eléctricas. A pesar de que en las condiciones adecuadas fue posible minimizar las pérdidas resistivas, los films no resultaron ferroeléctricos, debido probablemente a que su pequeño tamaño de grano (< 100nm) reduce la distorsión tetragonal necesaria para la estabilización de la ferroelectricidad. Mediante sputtering y litografía óptica se microfabricaron electrodos superiores de Ti, observándose efectos de memoria resistiva; en particular, se observó que dependiendo de la morfología del BaTiO3 es posible estabilizar un régimen filamentario, asociado al arrastre por campo eléctrico del electrodo superior de Ti, o bien un mecanismo de interfase relacionado con la oxidación/reducción de una capa de TiOx en la interfase Ti/BaTiO3.