Identificación de especies químicas presentes en películas anódicas de óxido de antimonio mediante XPS

O. E. LINAREZ PÉREZ; M. D. SÁNCHEZ; M, LÓPEZ TEIJELO

La Plata, Argentina

Congreso; IV Encuentro de Química y Física de Superficies; 2009

Las películas pasivas representan un tópico especial en la electroquímica y han sido ampliamente estudiadas en los últimos 200 años debido a sus aplicaciones en películas ópticas, microelectrónica, manufactura de capacitores, etc. El comportamiento electroquímico de metales “válvula” como Ti, Zr, Ta, Bi, Sb, etc., ha sido estudiado bajo diversas condiciones de formación en relación a los modelos aplicables al crecimiento de óxidos anódicos aplicando diversas metodologías. A pesar de ello, los procesos fundamentales que controlan el crecimiento no son aún completamente comprendidos. En este trabajo se estudian el crecimiento, propiedades, estructura y composición química de películas de óxido de antimonio, crecidas por anodización de antimonio metálico. Los espesores se obtienen por elipsometría in-situ y las propiedades eléctricas se analizan a partir de mediciones de Espectroscopia de Impedancia Electroquímica (EIS). La respuesta EIS obtenida es compleja y fuertemente dependiente del pH y de la composición del electrolito y se interpreta en términos de elementos eléctricos pasivos mediante el empleo del Modelo de Acumulación de Cargas Superficiales [1]. Asimismo, los resultados de mediciones de XPS permiten conocer la estequiometria del óxido y además indican la incorporación de especies iónicas del electrolito durante el crecimiento, lo cual se correlaciona con el modelo empleado en la interpretación de la respuesta EIS.   [1] M. Bojinov, Electrochim. Acta 42 (1997) 3489.