Reducción de óxido de grafeno inducida durante la caracterización por espectroscopía Raman

G. LACCONI; L. PÉREZ; N. BAJALES LUNA

Buenos Aires

Congreso; Nano2016; 2016

UBA

REDUCCIÓN DE ÓXIDO DE GRAFENO PRODUCIDA DURANTE LA CARACTERIZACION POR ESPECTROSCOPÍA RAMANL. Pérez1, G. Lacconi1, N. Bajales2* 1INFIQC, CONICET. Dto. Fisicoquímica, Facultad de Ciencias Químicas, UNC. Haya de La Torre-Medina Allende, Cdad Universitaria, Córdoba, Argentina.2IFEG, CONICET. Facultad de Matemática, Astronomía y Física, UNC. Medina Allende s/n, Ciudad Universitaria, Córdoba, Argentina.*E-mail: bajalesluna@famaf.unc.edu.arEl óxido de grafeno (GO) es un material obtenido a partir de la oxidación del grafito, en forma económica y abundante. Es considerado de interés como fuente para la obtención de grafeno, y por sus potenciales aplicaciones en el área de energías alternativas. Sin embargo, no existe en la actualidad un estudio sistemático que permita conocer si el GO cambia sus propiedades durante una medición espectroscópica.En este trabajo se presentan resultados obtenidos a partir del monitoreo de los efectos generados en capas de GO depositadas sobre distintos sustratos (silicio monocristalino, polímeros y vidrio), cuando las mismas son caracterizadas por espectroscopía Raman en distintas condiciones. Los cambios observados en las láminas delgadas de GO dependen de la longitud de onda incidente, potencia de la radiación láser, tiempo de exposición y naturaleza del sustrato. Para determinadas condiciones, la relación de intensidades de las bandas D y G son compatibles corresponden a GO reducido. Asímismo, mediciones de AFM posteriores revelan modificaciones en la morfología de las capas de GO irradiadas, consistentes con las tendencias observadas en los espectros Raman. Estos resultados indicarían que la reducción inducida y controlada de GO, obtenida durante las mediciones de espectroscopía Raman, es una potencial herramienta litográfica.