Caracterización Raman de muestras de grafeno

V. DAL LAGO; G. I. LACCONI; L. FOA TORRES

Bariloche

Congreso; 98a Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina; 2013

AFA

474. Caracterización Raman de muestras de grafeno Dal Lago V1,Lacconi G2,Foa Torres L E F3 1 3 Instituto de Física Enrique Gaviola de Córdoba, CONICET-UNC 2 Instituto de Investigaciones Físico-Químicas de Córdoba, CONICET-UNC 3 Facultad de Matemática Astronomía y Física - Universidad Nacional de Córdoba Resumen: La espectroscopía Raman es una de las técnicas más útiles para la caracterización de nanoestructuras de carbono incluyendo nanotubos de carbono y mono y multicapas de grafeno [1]. Para el caso del grafeno esta técnica permite, por ejemplo, obtener informacióon sobre el número de capas de la muestra [2], presencia o no de defectos e incluso distinguir el tipo tipo de defecto (sp3, vacancias, bordes) [3]. En este trabajo nos enfocamos en la caracterización Raman de muestras de grafeno (1-3 capas), obtenidas por exfoliacion micromecánica [4] en la UNC, utilizando la dirección de polarizacióon del laser como una variable de control. Mostramos como variando la polarización se puede identificar el tipo de borde de una muestra (zigzag/armchair) y estudiamos la dependencia en polarizacióon de las diferentes bandas [5]. [1] A. C. Ferrari, D. M. Basko, Nature Nanotechnology 8 (2013) 235 [2] A. C. Ferrari, J. C. Meyer, V. Scardaci, C. Casiraghi, Michele Lazzeri, Francesco Mauri, S. Piscanec, Da Jiang, K. S. Novoselov, S. Roth, A. K. Geim, Phys. Rev. Lett. 97 (2006) 187401 [3] A. Eckmann, A. Felten, A. Mishchenko, L. Britnell, R. Krupke, K. S. Novoselov, and C. Casiraghi, Nano Letters 12 (2012) 3925 [4] K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang,Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, and A. A. Firsov, Science 306 (2004) 666 [5] Para más informacióon y publicaciones relacionadas: http://nanocarbon.famaf.unc.edu.ar/