CINDECA   05422
CENTRO DE INVESTIGACION Y DESARROLLO EN CIENCIAS APLICADAS "DR. JORGE J. RONCO"
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Generación de vacancias de oxigeno y absorción de luz visible en TiO2 Evonik P-25 a
Autor/es:
JULIAN ANDRES RENGIFO-HERRERA; CESAR PULGARIN; CHRISTIAN PETRIER; M. BLANCO; L. PIZZIO
Lugar:
Santa fé
Reunión:
Congreso; XXIII Congreso Iberoamericano de Catálisis; 2012
Resumen:
En este estudio se utilizó TiO2 Evonik P-25 (con estructura cristalina anatasa-rutilo en una proporción 70:30), el cual fue suspendido en 15 ml de agua Milli-Q con una concentración de 5 g l-1 e irradiado durante 6 horas con una sonda de inmersión de ultrasonido (que opera a 20 KHz y con una intensidad acústica de 1.2 W mL- 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. horas con una sonda de inmersión de ultrasonido (que opera a 20 KHz y con una intensidad acústica de 1.2 W mL- 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. 70:30), el cual fue suspendido en 15 ml de agua Milli-Q con una concentración de 5 g l-1 e irradiado durante 6 horas con una sonda de inmersión de ultrasonido (que opera a 20 KHz y con una intensidad acústica de 1.2 W mL- 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. horas con una sonda de inmersión de ultrasonido (que opera a 20 KHz y con una intensidad acústica de 1.2 W mL- 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. 2 Evonik P-25 (con estructura cristalina anatasa-rutilo en una proporción 70:30), el cual fue suspendido en 15 ml de agua Milli-Q con una concentración de 5 g l-1 e irradiado durante 6 horas con una sonda de inmersión de ultrasonido (que opera a 20 KHz y con una intensidad acústica de 1.2 W mL- 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. horas con una sonda de inmersión de ultrasonido (que opera a 20 KHz y con una intensidad acústica de 1.2 W mL- 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. -1 e irradiado durante 6 horas con una sonda de inmersión de ultrasonido (que opera a 20 KHz y con una intensidad acústica de 1.2 W mL- 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. - 1). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura. ). Se realizó la caracterización del material utilizando microscopía de barrido electrónico SEM, espectroscopía de reflectancia difusa UV-vis, espectroscopía fotoelectronica de rayos X (XPS) y resonancia de espin electrónica (ESR) de baja temperatura.
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