IFLYSIB   05383
INSTITUTO DE FISICA DE LIQUIDOS Y SISTEMAS BIOLOGICOS
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Modelo numérico para la optimización de fotodiodos bajo radiación espacial
Autor/es:
M.A.CAPPELLETTI; A.P.CEDOLA; E.L.PELTZER Y BLANCA
Lugar:
Buenoas Aires
Reunión:
Workshop; DECIDE 2007 - First International Workshop Dependable Circuit Design; 2007
Institución organizadora:
Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
Resumen:
Paper Title (use style: paper title) <!-- @page { size: 8.5in 11in; margin: 0.79in } P { margin-bottom: 0.08in } --> En el presente trabajo son presentados resultados obtenidos por medio de un modelo numérico propio, con el propósito de analizar los daños por desplazamiento inducidos por radiación sobre fotodiodos PIN de silicio que operan en un ambiente espacial. El principal resultado mostrado es la determinación de valores umbrales: Intrinsic RegionThickness Threshold (IRTT) y Light Intensity Threshold (LIT). Estos parámetros dan los valores para los cuales, los daños por radiación de protones son minimizados. Los valores de IRTT y LIT, muestran la importancia de la relación entre la longitud de la región intrínseca con respecto a la longitud total del fotodiodo y a la intensidad lumínica, respectivamente.