C. P. QUINTEROS; M. J. CORTÉS BURGOS; M. GRANADA; J. GUIMPEL

INT-INN_03RM-001 Procedimiento para la medición de reflectometrías de rayos X empleando el difractómetro Empyrean

2017-08-31/2018-01-22;

Método de caracterización por reflectometría de rayos X; Ciencia y cultura-Ciencia y tecnologia;