Los módulos fotovoltaicos, cargadores de baterías, reguladores de carga e inversores son ensayados bajo normas y protocolos nacionales y, en aquellos casos que no existan, los mismos se realizan bajo normativa internacional.

La prestación incluye la recepción de los equipos a ensayar bajo procedimientos normados y la secuencia de ensayos previstos en la Norma.

Los ensayos que se realizan consisten en la recepción de los componentes, la caracterización eléctrica y mecánica de los módulos fotovoltaicos y el ensayo eléctrico de los cargadores, reguladores e inversores. Para ello es necesario seguir los procedimientos previstos en cada Norma específica para cada ensayo. Una vez concluida la secuencia de ensayos previstas y/o solicitadas se elabora un informe técnico detallando los resultados obtenidos y firmado por personal calificado que realizó el ensayo, el responsable técnico y el responsable del laboratorio.

Desarrollo tecnológico y social proyectos complejos

INGENIERIA-VARIAS

Energia-Solar

Ensayos y análisis técnicos

ensayos eléctricos
ensayos mecánicos
módulos fotovoltaicos
componentes electrónicos
normativa

El sensor solar se adecua mediante el pegado de un vidrio protector. La caracterización eléctrica se realiza mediante la medición de su respuesta eléctrica con espectro solar espacial AM0

La prestación incluye el ensayo de recepción de componentes, el pegado del vidrio protector y la medición o mediciones de las características eléctricas y el sensor de temperatura si es que lo posee.

El trabajo que se realiza es la espacialización de sensores de posición para nanosatélites, para ello se acondicona el sensor y se caracteriza la señal de los dispositivos para poder ser utilizados en el espacio. Se realiza un ensayo de recepción para ver la integridad y el correcto funcionamiento de los sensores que el cliente provee, luego se procede al pegado de vidrio protector (100 micrones, calidad espacial y dopado con cerio para amortiguar efectos de la radiación) en área limpia. Por último se realiza la caracterización eléctrica mediante la medición de la señal del sensor iluminado con espectro AM0 y utilizando una celda de referencia calibrada. Esta medición puede realizarse, según se requiera, con incidencia normal o a distintos ángulos de elevación y de rotación.

Desarrollo tecnológico y social proyectos complejos

INGENIERIA-AERONAUTICA Y ESPACIAL

Espacio

Fabricación de componentes electrónicos

sensor solar
espectro AM0
nanosatelites

Se realiza la caracterización y calibración de un radiómetro fotovoltaico para medición de radiación solar bajo normativa internacional

La caracterización consiste en la determinación de la curva corriente-tensión característica, de la curva de la respuesta angular y de curva de la respuesta espectral del sensor de silicio del radiómetro fotovoltaico apto para medición de radiación solar global. Para la calibración de los sensores de radiación solar, el laboratorio dispone de procedimientos para la calibración en exterior (al Sol) y en interior con lámparas patrón y simulador solar. Estos procedimientos se basan en normas internacionales IEC e ISO. Se genera un documento interno con el procedimiento de caracterización y se entrega un certificado de calibración del sensor.

Desarrollo tecnológico y social proyectos complejos

INGENIERIA-OTRAS

Energia-Solar

Fabricación de componentes electrónicos

radiación solar
radiómetro
sensor de silicio
fotovoltaico
energía

Mediciones de nanoindentación y ensayos de rayado

Se realizan mediciones de nanoindentación en control por carga, hasta cargas máximas de 500 mN, o en control por desplazamiento, hasta profundidades máximas de 2 micrones. Se realizan determinaciones de módulo de indentación, dureza, creep, propiedades tribológicas y parámetros fractomecánicos. También se realizan mapeos de propiedades en una superficie. Se pueden medir películas delgadas (mínimo espesor: aprox. 100 nm) o materiales bulk (metales, polímeros, cerámicos, compuestos).

Mediciones de nanoindentación y ensayos de rayado utilizando un Nanoindentador Agilent G200. Cabezal XP. Puntas: Berkovich, Cube Corner. Carga máxima: 500 mN. Profundidad máxima: 2 micrones. Control por carga o por desplazamiento.

Nanoindentador Agilent Technologies G200

Ingenieria y Tecnologia de Materiales

INGENIERIA-DE MATERIALES

Otros campos

Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y de las ciencias exactas y naturales | Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología | Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p.

Nanoindentación
Propiedades Mecánicas
Rayado
Recubrimientos
Polímeros, cerámicos, metales.

Se brindará asesoramiento a empresas u organizaciones que empleen polímeros hidrofílicos como insumos para la manufactura de sus productos. Se hará hincapié en el análisis de las cadenas de proceso de purificación y control de calidad de estos polímeros, empleados como componentes del producto final.

Se analizarán las metodologías de síntesis, purificación y caracterización de polímeros disponibles en el mercado, empleados para la manufactura de productos de la empresa/organización solicitante. En función de las necesidades requeridas, se elaborará un reporte escrito donde se establecerán los parámetros óptimos y métodos de análisis para mejorar y controlar etapas del proceso de producción.

Ciencias Quimicas

QUIMICA-DE LOS MATERIALES

Qca.,Petroqca.y Carboqca.-Otros

Fabricación de resinas y cauchos sintéticos

POLIELECTROLITROS
POLÍMEROS HIDROFÍLICOS

Nanoindentación por microscopía de fuerza atómica. Este equipo permite realizar indentaciones de manera controlada por presion o carga, hasta fuerzas de 150 microN, en área localizadas a escala nano y la posterior caracterización in situ de la muestra indentada. Se realizan determinaciones de módulo de young y dureza, en diferentes áreas de la muestra. Se pueden medir películas delgadas o materiales bulk especialmente pulidos.

Mediciones de nanoindentacion utilizando un equipo de microscopia de fuerza atómica Bruker Dimension 3100, con puntas de diamante para nanoindentacion. Carga maxima 150 a 300 micro Newtons. Se realiza en primer lugar un estudio de factibilidad orientado a establecer la viabilidad de la medición de propiedades topográficas y mecánicas de las muestras. e realiza la caracterización de la topografía y las propiedades mecánicas de las muestras, de acuerdo la información requerida por contratante y los protocolos aprobados. Se elaborará un informe técnico que incluirá las mediciones, realizadas y el análisis correspondiente.

Ingenieria y Tecnologia de Materiales

VARIAS CIENCIAS EXACTAS Y NATURALES

Prom.Gral.del Conoc.-Cs.Exactas y Naturales

Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología

AFM
Nanoindentacion
Propiedades mecanicas
Films y peliculas delgadas
nanoestructuras

Enseñanza de conceptos de formación y actualización en energía solar fotovoltaica (ESFV) relacionados con celdas, sensores y paneles solares para aplicaciones terrestres y espaciales. Permite a técnicos y profesionales, en el campo de energía acceder y actualizar conocimientos en el estado de la técnica de la ESFV. Asesoramiento en simulación y dimensionamiento de sistemas fotovoltaicos conectados a la red y sistemas autónomos.

Se incluyen clases teóricas y prácticas de manera presencial o virtual. Prácticas de laboratorio con el equipamiento según las necesidades del contratante y disponibilidad de materiales e instrumentos. Se abarcan los conceptos básicos vinculados con el recurso solar, dimensionamiento de sistemas fotovoltaicos y estado de la técnica a nivel mundial y regional. El curso y el asesoramiento se adaptarán a las necesidades del contratante, puede estar orientado a técnicos, estudiantes o profesionales.

Desarrollo tecnológico y social proyectos complejos

INGENIERIA

Energia-Solar

Generación de energía n.c.p. (Incluye la producción de energía eléctrica mediante fuentes de energía solar, biomasa, eólica, geotérmica, mareomotriz, etc.)

energía solar fotovoltaica
radiacion solar
generación distribuida
uso espacial de la energía solar
legislacion

El curso está destinado a investigadores, técnicos, profesionales de instituciones públicas, tomadores de decisiones, relacionados con el área aeroespacial y nuclear.

Curso sobre efectos de radiación ionizante en circuitos electrónicos. Comprende una introducción a microelectrónica, descripción de ambientes con radiación ionizante, efectos de dosis total (TID), efectos transitorios (SEE) y daño por desplazamiento (DD) . Dictado de clases teóricas de manera presencial o virtual, con presentaciones preparadas ad hoc para ello. El curso consta de cinco módulos teóricos de cuatro horas cada uno y en caso de requerirse hasta dos módulos de cuatro horas de simulación libres. Se dictará el curso ante los asistentes que el solicitante disponga, entregarán preguntas de evaluación y corregirá la evaluación. La plataforma para el dictado del curso y dictado virtual serán provistas por el solicitante

Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas

INGENIERIA-ELECTRONICA

Espacio

Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p.

Ambientes espaciales
Confiabilidad
Espacialización de componentes

Los billetes de circulación actual poseen una cinta o hilo metálico con sectores de material magnético. Para su utilización deben cumplir, entre otras, las características magnéticas solicitadas al proveedor. Para asegurar estas características se deben realizar mediciones de magnetización en función de campo magnético de este material para determinar la magnetización de saturación y el campo coercitivo del mismo. Esto se realiza con un magnetómetro.

Para la caracterización de estos hilos magnéticos se utilizará un magnetómetro de muestra vibrante. Previo a la medición de cada lote recibido se debe realizar la calibración del magnetómetro y posteriormente se caracterizará con la medición de las magnetización en función de campo magnético (a temperatura ambiente) de las cintas. Con estos datos se realiza en análisis de los datos de las mediciones y la confección del informe correspondiente

Magnetómetro de muestra vibrante (VSM) LakeShore Quantum design-Versalab

Física

FISICA-MATERIA CONDENSADA

Productos metalicos

Servicios relacionados con la impresión

Hilos
Billetes
magnetismo

Asesoramiento en procesos relacionados a micro y nano dispositivos de acuerdo a los requerimientos técnicos y aplicabilidad de los mismos

A partir de las definiciones de los procesos de interés por parte de la contraparte y las necesidades de asesoramiento planteadas, se realiza un análisis del estado del arte y antecedentes en el tema para la elaboración del informe correspondiente. Se describen los procesos de micro y nanofabricacion aplicables de acuerdo a los requerimientos técnicos presentados. Se analizan las ventajas y desventajas de cada proceso, con un análisis de las limitaciones técnicas y alcance de los mismos. En base a los contenidos expuestos, se recomiendan diferentes procesos para la fabricación de dispositivos de interés. El servicio termina con la elaboración y presentación de un informe final del asesoramiento. En caso que el asesoramiento derive en involucrar el know-how y/o participación en actividades de diseño/desarrollo, se deberán canalizar las actividades a través de un convenio específico.

Ingenieria y Tecnologia de Materiales

VARIAS CIENCIAS EXACTAS Y NATURALES

Prom.Gral.del Conoc.-Cs.Exactas y Naturales

Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología

Asesoramiento
Procesos
Micro y Nanodispositivos

A partir de la entrega del patrón o dibujo del solicitante, se procede a traducir la idea en un dibujo que se puede imprimir en una máscara con patrón litrográfico para su transferencia sobre un sustrato, usualmente vidrio cromado. Este sustrato se puede usar en otras etapas como patrón a transferir sobre las películas depositadas o superficies planas, usando la litografía óptica y/o comidos químicos. El STAN está dirigido a empresas u organizaciones públicas.

Litografía óptica: transferencia del dibujo patrón en la máscara hacia un sustrato o film.

El proceso de litografía óptica involucra el depósito de una fotoresina sensible al UV de algunos nanómetros o pocos micrones. Luego, ésta se alinea y se expone en una alineadora de máscaras donde se realiza la transferencia del dibujo de la máscara a la muestra. Las dimensiones mínimas están en los 2 micrómetros. Entregable Dibujo en fotoresina sobre sustrato o film.

Alineadora UV Fabricación Propia MJB4

Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas

INGENIERIA-VARIAS

Varios campos

Fabricación de componentes electrónicos

Sala limpia
Nanotecnología
Litografía

A partir de la entrega del patrón o dibujo del solicitante, se procede a traducir la idea en un dibujo que se puede imprimir en una máscara con patrón litrográfico para su transferencia sobre un sustrato, usualmente vidrio cromado. Este sustrato se puede usar en otras etapas como patrón a transferir sobre las películas depositadas o superficies planas, usando la litografía óptica y/o comidos químicos. El STAN está dirigido a empresas u organizaciones públicas.

Se realiza la transcripción del dibujo de la máscara

La máscara se dibuja en computadora a partir de la entrega del patrón por el solicitante. Puede dibujarse desde nanómetros hasta los milímetros.

Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas

INGENIERIA-VARIAS

Varios campos

Fabricación de componentes electrónicos

Sala limpia
Nanotecnología
Litografía

A partir de la entrega del patrón o dibujo del solicitante, se procede a traducir la idea en un dibujo que se puede imprimir en una máscara con patrón litrográfico para su transferencia sobre un sustrato, usualmente vidrio cromado. Este sustrato se puede usar en otras etapas como patrón a transferir sobre las películas depositadas o superficies planas, usando la litografía óptica y/o comidos químicos. El STAN está dirigido a empresas u organizaciones públicas.

Proceso estándar mediante el cual se constituyen películas delgadas para estructurar un dispositivo. El material es a elección del demandante.

Las películas delgadas se obtienen por depósito de metales y no metales utilizando la técnica de pulverización catódica o evaporación térmica. El tamaño máximo es de 2 cm x 2 cm, a excepción de películas obtenidas con depósito de cromo que pueden alcanzar un máximo de 10cm x 10cm (4”x4"). Entregable: Sustrato con depósito.

Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas

INGENIERIA-VARIAS

Varios campos

Fabricación de componentes electrónicos

Sala limpia
Nanotecnología
Litografía

A partir de la entrega del patrón o dibujo del solicitante, se procede a traducir la idea en un dibujo que se puede imprimir en una máscara con patrón litrográfico para su transferencia sobre un sustrato, usualmente vidrio cromado. Este sustrato se puede usar en otras etapas como patrón a transferir sobre las películas depositadas o superficies planas, usando la litografía óptica y/o comidos químicos. El STAN está dirigido a empresas u organizaciones públicas.

Comidos químicos: Procedimiento para formar estructuras o exponer capas

Dependiendo del material a seleccionar se realiza un comido químico húmedo sobre las películas depositadas. Puede ser de naturaleza ácida o básica. Entregable: Sustrato, film o dispositivo con el proceso de comido realizado.

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INGENIERIA-VARIAS

Varios campos

Fabricación de componentes electrónicos

Sala limpia
Nanotecnología
Litografía

A partir de la entrega del patrón o dibujo del solicitante, se procede a traducir la idea en un dibujo que se puede imprimir en una máscara con patrón litrográfico para su transferencia sobre un sustrato, usualmente vidrio cromado. Este sustrato se puede usar en otras etapas como patrón a transferir sobre las películas depositadas o superficies planas, usando la litografía óptica y/o comidos químicos. El STAN está dirigido a empresas u organizaciones públicas.

Se utiliza un sistema de escritura para dibujar la máscara patrón

Se realiza con un escritor láser UV que puede ser variable. La resolución mínima es de 15 micrómetros. Entregable: Máscara de cromo con el dibujo.

Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas

INGENIERIA-VARIAS

Varios campos

Fabricación de componentes electrónicos

Sala limpia
Nanotecnología
Litografía

El servicio consiste en ciclados isotérmicos en condiciones de humedad relativa (HR) controlada. Se realiza un acondicionamiento de la estufa a utilizar por control de temperatura (Tº) y HR, las cuales serán controladas luego durante el ciclado. Se aplica a procesos que requiera calentamiento con control preciso de Tº y medición de HR, por ej, ensayos de inactivación de virus y bacterias en áreas como alimentos, salud, biología y ambiente. El resultado final se plasma en un informe técnico.

Este servicio consiste en la realización de un ciclado isotérmico en condiciones de humedad relativa (HR) controlada según requerimiento del demandante, utilizando una estufa de secado de laboratorio en las instalaciones del solicitante. La estufa se acondiciona estabilizando la temperatura y la HR a los valores deseados de ensayo (entre 25-100ºC y 20-80% HR) por medio de un controlador electrónico de temperatura comercial y recipientes contenedores con agua (tipo Pyrex o metálicos) dentro de la estufa. El servicio de ciclado isotérmico consiste en el monitoreo y control en tiempo real de la temperatura y la HR con una precisión de +-1°C y +-5% HR respectivamente, empleando el controlador electrónico y una interfase de medición de HR de fabricación propia. El tiempo de servicio mínimo (acondicionamiento + ciclado) es de 4 horas, extendiéndose según requerimientos. El STAN culmina con la elaboración de un informe del registro de la evolución de los parámetros del ciclo térmico (temperatra; HR y tiempo). El solicitante deberá proveer la estufa, preferentemente con un sistema de control y lectura de temperatura tipo Euroterm 2116 (o similar) con control de rampa y meseta isotérmica. También deberá proveer la PC utilizada para conectar la interfase de medición de humedad. La interfase de medición de HR será provista durante el servicio y utiliza un dispositivo tipo Arduino dotado de un sensor tipo cableado serie. El solicitante deberá otorgar los permisos para acceder al laboratorio donde se realizará el servicio.

Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas

MEDICINA-BACTERIOLOGIA

Tecnologia sanitaria y curativa

Ensayos y análisis técnicos

Ciclado térmico
Control de Humedad relativa
Estufa
Control de temperatura

El servicio tiene como objetivo caracterizar ante radiación ionizante ya sea por dosis total, efectos únicos o daño por desplazamiento de dispositivos semiconductores, circuitos integrados o circuitos electrónicos CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) o Bipolar-CMOS. El servicio está orientado a la industria electrónica, microelectrónica y semiconductores, entes gubernamentales o universidades interesadas.

A partir de este servicio se evalúa el daño causado por radiación ionizante en circuitos integrados o dispositivos fabricados en procesos CMOS o Bipolar-CMOS. Incluye la caracterización eléctrica antes, durante y después de la exposición. El tipo de radiación a utilizar será determinado en función del tipo de daño esperado, y de ser requerido se realizará bajo normas y estándares internacionales. En caso de ser necesario incluirá la obtención de imágenes radiográficas utilizando un tubo de rayos X de microhaz usando como detector un sensor de imagen CMOS. Asimismo, si es necesario incluirá el proceso de desencapsulado. Las caracterizaciones se realizan empleando generadores de señales, osciloscopios hasta 2G, fuentes de laboratorio, multímetros, source measurement units, etc. La sensibilidad en mediciones de corriente es de 0,1pA hasta 10.5A, permitiendo mediciones pulsadas. La medición de tensiones es posible hasta 210V con sensibilidad de 100nV también de forma pulsada de ser necesario. El entregable serán archivos binarios con resultados y un informe.

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INGENIERIA-ELECTRONICA

Prod.Metal.,Maq.y Equ.-Componentes Electron

Fabricación de componentes electrónicos

Circuitos integrados
Semiconductores
Caracterización

Se ofrece el procesamiento de muestras biológicas de origen animal (no humano), vegetal o microbiano, para obtener imágenes en microscopio electrónico de transmisión o en microscopio electrónico de barrido en modo STEM. El entregable resulta en la muestra montada en la grilla para su observación. El servicio está dirigido a organismos públicos académicos, de ciencia y tecnología, agencias gubernamentales de control, ONGs o instituciones privadas que requieran estos análisis.

Se utilizan protocolos estandarizados para preparación de muestras biológicas para su observación en Microscopio Electrónico de Transmisión (MET); alternativamente se adaptan las técnicas de acuerdo al tipo y calidad de muestra. El usuario debe contactar al responsable para coordinar aspectos técnicos del procesado y definir protocolos, tanto de fijación como de inclusión de muestra, según el objetivo que el usuario persiga, siendo los protocolos muy disimiles en función de la muestra a analizar. La metodología estándar es la siguiente: una vez fijado el material por el usuario en el campo o en su laboratorio (generalmente utilizando glutaraldehído), se procede a la entrega de la muestra al responsable técnico. El responsable realiza la segunda fijación y contraste, en general, utilizando tetróxido de osmio. Alternativamente, puede realizarse un contraste en bloque utilizando acetato de uranilo. Luego se realiza un tren de deshidratación hasta tener la muestra en solución de etanol absoluto. Este último es reemplazado por acetona pura y luego esta se va reemplazando por la resina de inclusión. Se coloca la muestra en el molde junto con resina y se polimeriza. Luego se talla y se procede a realizar el corte ultrafino de la muestra (aprox 70nm de espesor). Se monta sobre una grilla para MET, en general de cobre y de 200 mesh, y se realiza el ultimo contraste con citrato de plomo. Se entrega al usuario y que debe almacenar al resguardo de la luz hasta su observación en MET o en MEB modo STEM; en este ultimo caso debe agregarse un recubrimiento de carbono por sputtering. Se ofrece el procesamiento de muestras biológicas de origen animal (no humano), vegetal o microbiano. El servicio no implica diagnóstico.

Biología

BIOLOGIA-CELULAR Y MOLECULAR

Prom.Gral.del Conoc.-Cs.Exactas y Naturales

Ensayos y análisis técnicos (Incluye inspección técnica de vehículos, laboratorios de control de calidad, servicios de peritos calígrafos, servicios de bromatología)

ULTRAESTRUCTURA
ULTRAMICROTOMIA
MICROSCOPIA ELECTRONICA
MUESTRAS BIOLOGICAS

El servicio tiene como objetivo realizar análisis de fallos de circuitos integrados fabricados en tecnologías CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) o dispositivos semiconductores, utilizando resultados de caracterizaciones eléctricas y toda información posible provista por el demandante, complementando resultados de mediciones con simulaciones. El servicio está orientado a la industria electrónica, microelectrónica y semiconductores, entes gubernamentales o universidades interesadas.

A partir de especificaciones y datos de diseño provistos por el demandante, y los resultados de las caracterizaciones eléctricas y/o por radiación realizadas, se verificarán los circuitos integrados diseñados por terceros formalmente o mediante simulaciones. Se podrá incluir simulación por Monte Carlo utilizando Simulation Program with Integrated Circuits Emphasis (SPICE), elementos finitos, o primeros principios. En caso de usar software para simulaciones, se utilizarán licencias gratuitas, de acceso libre o provistas por el demandante en caso de ser necesario por razones de propiedad intelectual. El resultado será un informe y documentos técnicos con los resultados

Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas

INGENIERIA-ELECTRONICA

Prod.Metal.,Maq.y Equ.-Componentes Electron

Fabricación de componentes electrónicos

Circuitos integrados
Semiconductores
Caracterización

El servicio tiene como objetivo caracterizar desde un punto de vista eléctrico, efectos únicos o daño por desplazamiento de dispositivos semiconductores, circuitos integrados o circuitos electrónicos CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) o Bipolar-CMOS. El servicio está orientado a la industria electrónica, microelectrónica y semiconductores, entes gubernamentales o universidades interesadas.

A través de este servicio se pueden obtener características eléctricas tales como corrientes y tensiones en función del tiempo y señales de entrada de circuitos integrados fabricados en tecnologías CMOS o Bipolar-CMOS. Para ello se armará el banco de testeo, incluyendo conexión eléctrica y generación de señales según requerimiento, adquiriendo los parámetros que resulten necesarios. Para la caracterización eléctrica de dispositivos fabricados en procesos CMOS o Bipolar-CMOS se pueden medir características de corriente, tensión y carga en función de tiempo, tensión y corriente. Las caracterizaciones se realizan empleando generadores de señales, osciloscopios hasta 1GHz, fuentes de laboratorio, multímetros, source measurement units, según requerimiento. El entregable serán archivos binarios con resultados y un informe.

Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas

INGENIERIA-ELECTRONICA

Prod.Metal.,Maq.y Equ.-Componentes Electron

Fabricación de componentes electrónicos

Circuitos integrados
Semiconductores
Caracterización

Se realiza la caracterización dimensional de microestructuras (largo, ancho, espesor, rugosidad) obtenidas por procesos de microfabricación mediante la utilización del equipamiento adecuado (perfilómetro óptico y perfilómetro mecánico). Como resultados de dicha se entrega un informe con los detalles de las mediciones y los archivos conteniendo los datos de medición sin procesar. Las mediciones están destinadas a empresas o instituciones públicas o privadas, que requieran las mediciones citadas.

a) Medición por técnica perfilometría óptica en modo “vertical scanning interferometry (VSI)” o “phase shifting interferometry (PSI)”. b) La medición arroja por resultado un perfil 2D de un “corte” de la muestra, del cual puede extraerse la altura de un escalón a medir. c) Medición por técnica perfilometría mecánica que arroja por resultado la curvatura de una muestra en una determinada longitud.

a) Determinación de rugosidad y altura de escalón/imagen 3D con perfilometría óptica Medición por técnica perfilometría óptica en modo “vertical scanning interferometry (VSI)” o “phase shifting interferometry (PSI)”. El modo PSI aplica a muestras de rugosidad menor a 10nm y escalones de alturas menores a 200nm. El modo VSI aplica a muestras de mayor rugosidad (hasta varios micrones) y alturas de hasta 4mm aproximadamente. Ambas técnicas arrojna por resultado un mapeo tridimensional de la muestra, del cual puede extraerse la altura de un escalón a medir, así como sus dimensiones en el plano. El proceso puede requerir metalización previa de las muestras. Tecnología: perfilometría óptica interferométrica Rangos de aplicación: rugosidad de 1nm a 200um, escalones de 20nm a 2mm Precisión: variable según la reflectancia de la muestra y método Entregable: archivos .opd , informe gráfico automatizado .pdf con gráficos vectoriales b) Determinación de escalón 2D con perfilometría mecánica 20nm a 0.8mm Tecnología: perfilometría mecánica de contacto Rangos de aplicación: escalones de 15nm a 0.8mm Precisión: 2nm Entregable: archivos .xml , gráfica de escalón c) Determinación de curvatura con perfilometría mecánica 2D Tecnología: perfilometría mecánica de contacto Rangos de aplicación: curvatura mayor a 15nm Precisión: 2nm Entregable: archivos .xml , gráfica de curvatura

Perfilómetro óptico interferométrico 3D Veeco Perfilómetro óptico interferométrico 3D | Perfilómetro mecánico de contacto Labklass Perfilómetro mecánico de contacto | Perfilómetro óptico Veeco Perfilómetro óptico

Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas

INGENIERIA-DE MATERIALES

Varios campos

Fabricación de componentes electrónicos

Películas delgadas
Microestruturas
Rugosidad
Espesor
Perfilometría

Se ofrece asesoramiento técnico-operativo para la planificación y realización de ensayos que requieran microscopio electrónico doble haz (FIBSEM): realizar lamelas, micro y nanotomografías destructivas y reformulación de circuitos electrónicos. Se asesora en cuestiones técnico-operativas para estudios de caracterización y cuantificación elemental en microscopio electrónico de barrido que posea detector EDS Oxford Max80. El STAN está dirigido a todo tipo de público y culmina con un informe.

A) Se ofrece un curso específico según demanda en cuestiones técnicas operativas para la planificación y realización de un ensayo utilizando FIBSEM. B) Se ofrece un Curso complementario en cuestiones técnicas operativas para planificar y realizar un ensayo utilizando un SEM que posea un detector EDS Oxford Max80 para realizar ensayos de caracterización y cuantificación elemental.

Capacitación PRESENCIAL Y/O VIRTUAL: el temario del curso está relacionado directamente con la demanda del usuario en función de su hipótesis de trabajo y el material de estudio. Los plazos de tiempo para completar el asesoramiento varían en función de la complejidad del proyecto. El asesoramiento cuenta con instancias teóricas y prácticas de manera presencial o virtual, según requerimiento del demandante. Las instancias prácticas se realizarán según necesidades y disponibilidad de materiales e instrumentos. Se abarcan conceptos básicos vinculados con preparación de muestra, obtención de imágenes, obtención de informes, producción de lamelas, de nano o micro tomografías, modificaciones de circuitos o materiales y otros. El servicio se adaptará a las necesidades de asesoramiento del contratante, pudiendo estar orientado a técnicos, estudiantes o profesionales. El tiempo del servicio se adecúa a necesidades e hipótesis de trabajo puntuales, siendo el tiempo de servicio mínimo 2 horas y extendiéndose según requerimientos. En caso de que el asesoramiento se realice de manera presencial en las instalaciones del demandante, el solicitante deberá otorgar los permisos para acceder al laboratorio donde se realizará el servicio. En ambos casos se hace uso de la experiencia del INN para definir los parámetros del equipo en función del material de estudio y las hipótesis planteadas por el usuario o demandante. Se cuenta con vasta experiencia realizando tomografías y reformulación de circuitos electrónicos, técnicas de cuantificación de minerales y vidrios utilizando este detector EDS y validando los resultados contra los resultados de la técnica gold estándar utilizada en la descripción de los estándares obtenidos del “Smithsonian Institution”.

Física

FISICA-APLICADA

Varios campos

Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p.

MICROSCOPIA
FIBSEM
EDS
NANOTECNOLOGIA

Se realiza el ajuste de un modelo y/o medición para la determinación de espesores e índices de refracción por medio de elipsometría de longitud de onda variable.

a) Se realiza ajuste de un modelo de elipsometría de un determinado depósito (de una o varias capas) sobre un sustrato. b) A partir de una muestra conocida (sustrato y una o varias capas depositadas) y un modelo de elipsometría ya establecido, se realiza una medición de parámetros delta-psi con los cuales se puede determinar el espesor e índice de refracción de cada capa.

a) Modelado de un depósito multicapa para elipsometría Tecnología: elipsometría con barrido en longitud de onda Rangos de aplicación: depósitos transparentes o semitransparentes hasta 10um Entregable: archiovo en formato .mdl e informe explicativo b) Determinación de espesores e índices de refracción multicapa por elipsometría Tecnología: elipsometría con barrido en longitud de onda Rangos de aplicación: películas desde 1nm hasta 10um Entregable: resultado de medición e informe explicativo.

Elipsómetro espectroscópico para películas delgadas Horiba Elipsómetro espectroscópico para películas delgada

Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas

INGENIERIA-DE MATERIALES

Varios campos

Fabricación de componentes electrónicos

Películas delgadas
Índice de refracción
Elipsometría

El servicio tiene por objetivo el asesoramiento en el análisis de datos eléctricos, de microscopía, radiografía, y/o técnicos de circuitos integrados que presenten fallos. Simulación de dispositivos y circuitos integrados en procesos CMOS o Bipolar-CMOS y verificación de diseños provistos por el demandante. Se entrega un informe final con recomendaciones. Está orientado a la industria electrónica, microelectrónica y semiconductores, entes gubernamentales o universidades.

Se asesorará en el estudio de causas de los fallos observados, contrastando con mediciones eléctricas, imágenes de Focus Ion Beam o microscopía electrónica, imágenes de rayos X y simulaciones en SPICE (Simulation Program with Integrated Circuits Emphasis) de los circuitos provistos por el demandante. A partir de especificaciones e información sobre los procesos de fabricación provistos por el fabricante, se asesorará en temas de simulación y cálculo de características eléctricas o físicas de dispositivos o circuitos integrados en tecnologías CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) o Bipolar-CMOS. Se estimará el comportamiento eléctrico de dispositivos o circuitos integrados, basándose en simulación por SPICE, por elementos finitos, o primeros principios. El resultado será un informe final y documentos de referencia.

Ingeniería Civil, Eléctrica, Mecánica e Ingenierías Relacionadas

INGENIERIA-ELECTRONICA

Prod.Metal.,Maq.y Equ.-Componentes Electron

Fabricación de equipo eléctrico n.c.p.

Circuitos integrados
Semiconductores
Fallo

Mediciones de difracción de rayos X de polvos, películas delgadas, monolitos y piezas de diversas geometrías. Tubo de Cu, detector proporcional, monocromador, filtro de Ni (opcional), diversas rendijas y máscaras para delimitar el área iluminada. El servicio está dirigido a empresas, organismos públicos de CyT o instituciones académicas que lo requieran.

No se requiere preparación de la muestra, se pueden procesar en polvo, monolitos o películas soportadas. Se realizan barridos en ángulo, y se obtienen las intensidades difractadas, a partir de las cuales se pueden determinar fases cristalinas y tamaños de cristalita. Se pueden realizar mediciones con incidencia fija a bajo ángulo para evaluar cristalinidad de películas o recubrimientos. Posee un tubo de Cu (longitud de onda: 1,54 A), detector proporcional, monocromador, filtro de Ni (opcional), diversas rendijas y máscaras para delimitar el área iluminada. Se cuenta con una cámara para realizar mediciones con humedad controlada. Se entrega un informe técnico con los datos medidos y el análisis de los datos en caso se requiera por el solicitante. Se pueden medir difractogramas entre 1 y 100º2tita, con un paso mínimo de 0.0001º y una resolución angular de 0.026º (FWHM en LaB6).

DRX de polvos y películas Panalytical Empyrean

Ingenieria y Tecnologia de Materiales

CIENCIAS EXACTAS Y NATURALES

Varios campos

Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y de las ciencias exactas y naturales

CRISTALINIDAD
DIFRACCION
POLVOS
PELÍCULAS DELGADAS
MONOLITOS Y PIEZAS