INVESTIGADORES
GIUDICI Paula
informe técnico
Título:
Informe técnico
Autor/es:
PAULA GIUDICI
Fecha inicio/fin:
2014-09-01/2014-11-10
Naturaleza de la
Producción Tecnológica:
física
Campo de Aplicación:
Otros campos
Descripción:
Estudio de la factibilidad técnica de la difracción de RX para caracterización de peliculas delgadas semiconductoras. En el Laboratorio de Propiedades Estructurales del Departamento de Materia Codensada da la CNEA se cuenta con dos difractómetros de Rayos X para monocristales (SCXRD) y diferentes accesorios para estudios de películas delgadas. El objetivo de este estudio es determinar las características y limitaciones que ofrezca dicho equipamiento para investigar este tipo de muestras.
