PERSONAL DE APOYO
LUDUEÑA Silvio Juan
datos académicos
Categoría
PROFESIONAL ADJUNTO
Tarea
Reparar y mantener el instrumental que lo requiera para su correcto funcionamiento. Mantener y controlar el suministro de nitrógeno gaseoso para la cámara de atmósfera controlada del AFM y para el sistema de vacío del SEM. Controlar el sistema de refrigeración por agua para los microscopios electrónicos. Brindar servicios de microscopía SEM y AFM, incluidas sus técnicas asociadas. Procesar las imágenes de los servicios de AFM y SEM. Preparar muestras para microscopía AFM y SEM. Administrar el Sistema de Gestión de Turnos del AFM. Participar en la instalación de un nuevo microscopio electrónico ZEISS modelo GeminiSEM 560, y la reubicación de un microscopio electrónico ZEISS modelo Supra 40 y su cambio de filamento. Esto abarca instalaciones eléctricas, paredes con aislación acústica y electromagnética, puesta a tierra independiente para el microscopio, luminarias, sistema de refrigeración por agua del microscopio, UPS, sistema de aire comprimido, sistema de venteo con nitrógeno gaseoso, patas antivibratorias activas, y sistema activo de supresión de interferencias electromagnéticas. Capacitar en la operación del microscopio electrónico ZEISS modelo Supra 40 a investigadores de distintos grupos de la FCEN ? UBA. Participar en cursos de actualización sobre microscopía electrónica que se dicten en centros del país. Tomar capacitaciones a través de la empresa ZEISS en la operación del microscopio electrónico ZEISS modelo GeminiSEM 560. Se participará en la instalación de un nuevo detector EDS de la firma Oxford Instruments modelo X-Max 50 y se tomará capacitación en la operación del mismo.
Director
PAZ, JUAN PABLO / INV SUPERIOR
Co-director
PIETRASANTA, LIA ISABEL / INV INDEPENDIENTE
Lugar de trabajo
[IFIBA] INSTITUTO DE FISICA DE BUENOS AIRES -
[OCA - CDAD. UNIVERSITARIA] OFICINA DE COORDINACION ADMINISTRATIVA CIUDAD UNIVERSITARIA -
[CONICET] CONSEJO NACIONAL DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS Y TECNICAS -