INVESTIGADORES
TORGA Jorge Roman
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
Perfilometría por interferometría de baja coherencia en muestras metálicas para la empresa Titania
Autor/es:
ENEAS MOREL; JORGE TORGA
Fecha inicio:
2009-02-01
Fecha finalización:
2011-11-01
Naturaleza de la
Producción Tecnológica:
óptica - mecánica - electrónica
Campo de Aplicación:
Productos metalicos
Descripción:
Se deasarrolló un método y un equipo a escala piloto para la obtención de perfilometría de piezas metálicas por interferometría de baja coherencia con el objetivo de obtener los parámetros dimensionales de estas piezas.
El proyecto se dividió en tres etapas:
1 Pruebas de factibilidad de la técncia - armado del sistemay portamuetra (informe 1)
2 Diseño y construcción de un sistema a escala piloto - Ensayo sobre muestras de escal reducida (informe2)
3 Diseño a escala real - construcción de un sistema portamuestra controlado + un cabezal interferometrico de medición (en desarrollo)
