PERSONAL DE APOYO
THEILLER Mariela
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
Servicio de Microscopía Electrónica de Barrido y Microanálisis CETMIC
Autor/es:
MARIELA THEILLER
Fecha inicio:
2012-08-01
Fecha finalización:
2012-09-01
Campo de Aplicación:
Rec.Nat.No Renov.-Otros
Descripción:
Se recibieron 11 muestras rotuladas, de distinto origen y con distintas finalidades, son fragmentos de materiales cerámicos densos (SiO2, Al2O3 y ZrO2) por un lado y hormigón refractario por el otro. Se montaron y metalizaron con oro por medio del método de sputtering (es el depósito de una delgada capa del metal de unos 15 nm de espesor),luego fueron observadas en el Microscopio Electrónico de Barrido y finalmente se tomaron imágenes de la morfología superficial de los materiales en diferentes magnificaciones según las características de su textura superficial y a la vez que sirvan a los fines de compararlas. Se entregaron los resultados en tiempo y forma.
