Films delgados de BaTiO3 sobre Pt/Si: crecimiento, caracterización y propiedades de memoria resistiva

M. RENGIFO; A. ROMÁN; L. SALEH MEDINA; M. NEGRI; L. STEREN; P. LEVY; D. RUBI

Conferencia; XVI Encuentro de Superficies y Materiales Nanoestructurados; 2016

Se crecieron por ablación láser films delgados de laperovskita BaTiO3 (BTO) sobre substratos conductores de Pt/Si. Losfilms resultaron policristalinos y se estudió la correlación entre losparámetros de crecimiento, su morfología superficial y sus propiedades eléctricas.A pesar de que en las condiciones adecuadas fue posible minimizar las pérdidasresistivas, los films no resultaron ferroeléctricos, debido probablemente a quesu pequeño tamaño de grano (< 100nm) reduce la distorsión tetragonalnecesaria para la estabilización de la ferroelectricidad. Mediante litografíaóptica y sputtering se fabricaron microelectrodos de Ti sobre el BTO,observándose efectos de memoria resistiva; en particular, se observó quedependiendo de la morfología del BTO es posible estabilizar un régimenfilamentario, asociado al arrastre por campo eléctrico de iones provenientesdel electrodo superior de Ti, o bien un mecanismo de interfaz relacionado con laoxidación/reducción de una capa de TiOx en la interfaz Ti/BTO.