BECAS
ROA DÍAZ SimÓn Andre
congresos y reuniones científicas
Título:
Atomic Force Microscopy as an alternative method for characterizing of materials mechanical properties
Autor/es:
SIMÓN ROA; MARÍA JOSÉ CORTÉS BURGOS; MARTÍN SIRENA
Lugar:
Puerto Varas
Reunión:
Simposio; XXII Latin American Symposium on Solid State Physics (SLAFES); 2015
Institución organizadora:
Universidad de Chile
Resumen:
En este trabajo se presentan los primeros estudios sobre la implementación y desarrollo de la técnica de nanoindentación asistida por Microscopia de Fuerza Atómica (AFM, por sus siglas en inglés) en las dependencias del Centro Atómico Bariloche (Argentina), siendo el primer desarrollo de dicha técnica en el país. En particular, se mostrarán los primeros resultados experimentales y estudios de la factibilidad de dicha técnica para el futuro estudio de sistemas nanoestructurados.
