INVESTIGADORES
ROSENBERGER Mario Roberto
congresos y reuniones científicas
Título:
Determinación por reflectometría de rayos X del espesor de recubrimientos de TiO2 obtenidos por oxidación anódica
Autor/es:
VERA, M.L.; ARES, A.E.; MARIO ROBERTO ROSENBERGER; LAMAS, DIEGO; SCHVEZOV, C. E.
Lugar:
Posadas
Reunión:
Encuentro; V Reunión de la Asociación Argentina de Cristalografía; 2009
Resumen:
de titanio de mayor espesor y densidad que
el que crece naturalmente,
el cual frecuentemente no supera los 10 nm de espesor con numerosos
poros y microfisuras.
Por lo tanto,
estos recubrimientos mejoran el desempeño de las
aleaciones de titanio como biomaterial.
En el presente trabajo se obtienen recubrimientos
de TiO2 por oxidación anódica de la aleación Ti-6Al-4V a diferentes
voltajes (10V a 60V) durante 1 minuto, empleando una solución de ácido
sulfúrico 1M como electrolito.
La morfología de los óxidos se observa por
microscopía óptica y electrónica de barrido (MEB), las fases presentes se analizan
por difracción de rayos X (DRX) con incidencia rasante de 1º y los espesores y la
rugosidad de las películas se determinan por reflectometría de rayos X (RRX).
Se evalúa la influencia del voltaje sobre
la rugosidad y el espesor de los recubrimientos.
Se obtienen diferentes
colores de recubrimientos según el voltaje aplicado de acuerdo al espesor de los
óxidos. Los valores
de espesores, calculados a partir de las
oscilaciones obtenidas en las curvas de
reflectometría, son entre
30 y 180 nm de espesor.
Con respecto a la estructura de los óxidos, los mismos resultaron amorfos
hasta los 60 V. Sin embargo
las fases cristalinas del TiO2,
anatasa y rutilo, se detectaron luego de
realizar tratamientos térmicos
de 1 h a 500 y 600 ºC a los recubrimientos.
Se comparan los valores de espesores
obtenidos con los reportados en la literatura medidos por la técnica de elipsometría [1, 2, 3].