INVESTIGADORES
SAPAG Manuel Karim
congresos y reuniones científicas
Título:
Caracterización de fases activas en arcillas pilareadas por XPS
Autor/es:
S. SPAGNOTTO, M. NAZZARRO, K.SAPAG, GABRIELA AMAYA
Lugar:
Buenos Aires
Reunión:
Congreso; Reunion Anual de la AFA; 2008
Institución organizadora:
Asociación Física Argentina
Resumen:
La técnica de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS) , también conocida por ESCA, es una de las principales técnicas de análisis de materiales ya que permite obtener información sobre la composición elemental en la superficie de la muestra y además, sobre el estado químico de dichos elementos. En este trabajo se muestra la caracterización por XPS de la fase activa de distintos materiales sintetizados en nuestro laboratorio, complementando análisis realizados por otras técnicas como difracción de Rayos X, análisis térmicos y adsorción-desorción de nitrógeno. Los materiales escogidos, son las llamadas arcillas pilareadas, de utilidad como adsorbentes y catalizadores por sus propiedades fisicoquímicas: textura micro-mesoporosa de elevada superficie específica, acidez superficial, estabilidad térmica y química. Para la síntesis de estos materiales, se utilizó como material de partida un filosilicato natural, rico en montmorillonita, proveniente de la Provincia de San Juan. Aprovechando su capacidad de intercambio iónico, se le intercalaron oligocationes de Al, formando arcillas pilareadas donde se varió distintas relaciones, OH/Al, cantidad de AI3+, estudiando el efecto sobre el material final La técnica de XPS no sólo nos brinda información complementaria a las otras técnicas, sino que además nos corrobora algunos de los resultados especulados por el proceso de síntesis llevado a cabo.
