CORRELACIÓN DE RESULTADOS DE DIFRACCION DE RAYOS X Y MICROTEXTURAS EN MATERIALES DEFORMADOS

N. S. DE VINCENTIS; A. KLIAUGA; M. C. AVALOS; M. FERRANTE; R.E. BOLMARO

Buenos Aires

Congreso; VI Reunión de la Asociación Argentina de Cristalografía.; 2010

En difractometría, además de la obvia influencia de la estructura cristalina, la posición, altura y ancho de los picos de difracción contienen información sobre parámetros microestructurales de los materiales. La textura, las tensiones residuales, de 1er, 2do y 3er tipo, y el tamaño de dominio de difracción, entre otros, se encuentran íntimamente inter-relacionados y resultan de difícil separación en cuanto a sus efectos sobre las características de los difractogramas. La influencia de la textura se evidencia en los resultados no sólo a través de las herramientas de cálculo que deben ponerse en juego sino también porque se tiene la sospecha de que, por ejemplo, la acumulación de energía de deformación en la forma de arreglos de dislocaciones, es fuertemente dependiente de la orientación de cada cristal dentro de un policristal. La consecuencia inmediata es que gran parte de las magnitudes medidas a posteriori, como las tensiones residuales, el tamaño de dominios, etc., son también dependientes de la orientación. Existen modelos que permiten el estudio de diversos tipos de defectos por medio de la difractometría de rayos X. Recientemente una técnica muy poderosa ha permitido obtener información sobre acumulación de defectos en función de la orientación cristalina. La técnica de Electron Back Scattering Diffraction (EBSD) permite, con un adecuado análisis de sus resultados, evaluar cuantitativamente la deformación plástica sufrida por los cristales que constituyen un policristal. Sin embargo, la evaluación cuantitativa todavía adolece de ciertas dificultades interpretativas y límites en la dimensión de muestreo accesible. El presente trabajo muestra diversos intentos de correlacionar los parámetros de heterogeneidad y anisotropía que surgen del tratamiento estadístico de los resultados de EBSD con los obtenidos por la técnica de Williamson-Hall de análisis de difractogramas de materiales deformados.