INVESTIGADORES
SANCHEZ Hector Jorge
congresos y reuniones científicas
Título:
Influencia de la Dispersión Raman Resonante en FRX?,
Autor/es:
H. J. SÁNCHEZ; M.C. VALENTINUZZI
Lugar:
Villa giardino, Córdoba, Argenitna
Reunión:
Congreso; SARX 2004; 2004
Institución organizadora:
FaMAF, Univ. Nac. de Cba.
Resumen:
Los espectros de rayos X presentan en algunos casos características particularesdebidas principalmente a procesos de dispersión, uno de los cuales es el efecto Ramanresonante (RRS). Es un proceso inelástico que ocurre cuando la enrgía incidente seaproxima por debajo del borde de absorción del elemento del blanco y puede producirpicos que interfieren con el fluorescente. La dispersión Raman domina elcomportamiento del fondo de la línea fluorescente y limita la sensitividad para detectarcontaminantes de baja concentración, sobre todo para la detección de elementos denúmero atómico próximo. El efecto Raman resonante es responsable de las diferenciasentre los valores medidos de los coeficientes másicos de atenuación y loscorrespondientes valores teóricos (del orden de 5-10%) cuando haces monocromáticosde rayos X interactúan con materiales bajo conmdiciones de resonancia. Se utilizóradiación de sincrotrón para estudiar el efecto Raman en muestras puras. Dado que elpico Raman tiene una forma asimétrica, se usaron modelos teóricos para la seccióneficaz diferencial convolucionados con la función del detector. De esta manera seobtuvieron las secciones eficaces Raman.