Microestructura y superconductividad en MgB2G

G. SERRANO; A. SERQUIS; M. T. MALACHEVSKY; L.CIVALE; B.MAIOROV; C. AYALA

S.C. de Bariloche

Workshop; Solidos 05; 2005

En enero del 2001, el descubrimiento de superconductividad en MgB2 gener´o un gran inter´es debido a que este material presenta propiedades muy interesantes, como la temperatura cr´ýtica m´as alta (Tc = 39 K) para un compuesto binario. Si bien las propiedades iniciales del material no eran las ´optimas, pocos a˜nos de investigaci´on han demostrado que pronto podr´a usarse para reemplazar a los superconductores tradicionales (Nb, Nb3Ti) en diversas aplicaciones. Uno de los m´etodos m´as utilizados para la fabricaci´on de conductores de MgB2, es el conocido como ”powder-in-tube” (PIT), en el que el polvo del material superconductor se coloca en un tubo met´alico que es deformado mec´anicamente para la obtenci´on de alambres o cintas de secciones peque˜nas (del orden del mm2). Uno de los par´ametros m´as importantes para la utilizaci´on de un superconductor es la densidad de corriente cr´ýtica (Jc), que est´a fuertemente correlacionado con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc para la utilizaci´on de un superconductor es la densidad de corriente cr´ýtica (Jc), que est´a fuertemente correlacionado con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc en el que el polvo del material superconductor se coloca en un tubo met´alico que es deformado mec´anicamente para la obtenci´on de alambres o cintas de secciones peque˜nas (del orden del mm2). Uno de los par´ametros m´as importantes para la utilizaci´on de un superconductor es la densidad de corriente cr´ýtica (Jc), que est´a fuertemente correlacionado con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc para la utilizaci´on de un superconductor es la densidad de corriente cr´ýtica (Jc), que est´a fuertemente correlacionado con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc los m´etodos m´as utilizados para la fabricaci´on de conductores de MgB2, es el conocido como ”powder-in-tube” (PIT), en el que el polvo del material superconductor se coloca en un tubo met´alico que es deformado mec´anicamente para la obtenci´on de alambres o cintas de secciones peque˜nas (del orden del mm2). Uno de los par´ametros m´as importantes para la utilizaci´on de un superconductor es la densidad de corriente cr´ýtica (Jc), que est´a fuertemente correlacionado con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc para la utilizaci´on de un superconductor es la densidad de corriente cr´ýtica (Jc), que est´a fuertemente correlacionado con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc en el que el polvo del material superconductor se coloca en un tubo met´alico que es deformado mec´anicamente para la obtenci´on de alambres o cintas de secciones peque˜nas (del orden del mm2). Uno de los par´ametros m´as importantes para la utilizaci´on de un superconductor es la densidad de corriente cr´ýtica (Jc), que est´a fuertemente correlacionado con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc para la utilizaci´on de un superconductor es la densidad de corriente cr´ýtica (Jc), que est´a fuertemente correlacionado con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. 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Se analiza la dependencia de la Jc con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc Si bien las propiedades iniciales del material no eran las ´optimas, pocos a˜nos de investigaci´on han demostrado que pronto podr´a usarse para reemplazar a los superconductores tradicionales (Nb, Nb3Ti) en diversas aplicaciones. Uno de los m´etodos m´as utilizados para la fabricaci´on de conductores de MgB2, es el conocido como ”powder-in-tube” (PIT), en el que el polvo del material superconductor se coloca en un tubo met´alico que es deformado mec´anicamente para la obtenci´on de alambres o cintas de secciones peque˜nas (del orden del mm2). Uno de los par´ametros m´as importantes para la utilizaci´on de un superconductor es la densidad de corriente cr´ýtica (Jc), que est´a fuertemente correlacionado con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc con la microestructura del material. En este trabajo se presenta un estudio de los efectos de distintos par´ametros de fabricaci´on de alambres y cintas de PIT MgB2 y de algunos dopajes (C, SiC). Se presentan mediciones de Jc realizadas por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc por transporte y magnetizaci´on, campo cr´ýtico (Hc) y la caracterizaci ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc ´on estructural a trav´es de microscop´ýa de barrido y difracci´on de rayos-X. Se analiza la dependencia de la Jc dopajes (C, SiC). Se presenta