Cambios topográficos en superficies de Cu irradiadas con iones de He

A. BRUCHHAUSEN; A. M. LOBOS; C. LULICH; G. ZOJA; S. SUÁREZ

Rosario, Prov. Santa Fe, Argentina

Conferencia; 86a Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina (AFA); 2001

Se analizaron cambios topográficos en superficies de Cu, irradiadas con Iones de He+ de 1.2 KeV. Para ello se diseño, construyó y monto una cámara de alto vacío con un cañón de iones y un posicionador de muestras. Se utilizó la microscopía de fuerza atómica (AFM) y de barrido electrónico (SEM) para el análisis de las superficies irradiadas. Se hizo uso de técnicas tradicionales de vacío, colimación y medición de corrientes de iones y pulido mecánico para la preparación de las muestras. Cálculos de rangos de penetración, coeficientes de sputtering, y valores de difusividad del He en las muestras dejan abierta la posibilidad de formación de ampollas a estas energías. Las muestras analizadas con el AFM presentan importantes cambios topográficos, con la aparición de estructuras tipo ampollas, cuyas dimensiones dependen de la dosis de irradiación. Se observa la existencia de “cráteres” por encima de una determinada dosis, en concordancia con estudios de ampollado realizados sobre el mismo tipo de muestras con iones mas energéticos (15 KeV). Se discute el modelo de Auciello para la formación de ampollas y su aplicabilidad en relación a lo observado. Por ultimo se discuten errores y se proponen mejoras a la experiencia.