Anisotropía perpendicular magnética inducida por tensiones en películas delgadas de FePt

NADIA ÁLVAREZ; M. E. VAZQUEZ MONTALBETTI; JAVIER GÓMEZ; ALEJANDRO BUTERA

Bariloche

Conferencia; 98a. Reunión Nacional de Física de la Asociación Física Argentina; 2013

AFA

Las pel´ıculas delgadas de FePt en su fase cristalina ordenada han despertado en los ´ultimos a?nos un considerable inter´es tecnol´ogico en el ´area de almacenamiento de informaci´on en medios magn´eticos. Sin embargo, los films fabricados por t´ecnicas de sputtering a temperatura ambiente crecen en una fase cristalinamente desordenada (llamada A1) que presenta un comportamiento magn´etico singular que los hace muy interesantes para un estudio detallado de sus propiedades f´ısicas b´asicas. En particular, este sistema muestra un espesor cr´ıtico por encima del cual los dominios magn´eticos cambian de encontrarse esencialmente en el plano a un patr´on de franjas o tiras en las cuales la magnetizaci´on tiene una componente perpendicular al plano del film. Esta es inducida por una componente de anisotrop´ıa magn´etica originada por los efectos combinados de anisotrop´ıa magnetocristalina (las pel´ıculas tienden a crecer con una fuerte textura con la direcci´on (111) de f´acil magnetizaci´on perpendicular alfilm) y energ´ıa magnetoel´astica (tensiones residuales)[1].Se crecieron una serie de seis pel´ıculas delgadas de FePt con un espesor de 100 nm, variando la presi´on de Ar dentro de la c´amara de sputtering de 3 a 13 mTorr. Por medio de este procedimiento es posible mantener la textura aproximadamente constante, pero relajar las tensiones. Las muestras fueron caracterizadas por difracci´on de rayos X. Con un microscopio de fuerza magn´etica pudimos observar la transici´on de un patr´on en stripes a dominios magn´eticos en el plano para una presi´on de Ar entre 9 y 11 mTorr. Tambi´en comparamos estas im´agenescon medidas de magnetizaci´on dc y de resonancia ferromagn´etica. De estos resultados es posible concluir que los efectos magnetoel´asticos son la mayor contribuci´on a la componente de la anisotrop´ıa perpendicular presente en nuestras muestras.[1] E. Sallica Leva, R. C. Valente, F. Mart´ınez Tabares, M. V´asquez Mansilla, S. Roshdestwensky, and A. Butera, Phys. Rev. B 82, 144410 (2010).