INVESTIGADORES
MEYER Marcos
congresos y reuniones científicas
Título:
MAGNETISMO EN ÓXIDOS NO MAGNÉTICOS. EFECTO DE LA TEMPERATURA Y PRESIÓN DE HIDRÓGENO SOBRE LAS PROPIEDADES ESTRUCTURALES, ÓPTICAS Y MAGNÉTICAS DEL TIO2
Autor/es:
ODIN VÁZQUEZ-ROBAINA; CLAUDIA E. RODRÍGUEZ-TORRES; ALEJANDRA F. CABRERA; MARCOS MEYER; ROSANA M. ROMANO; ABEL FUNDORA-CRUZ
Lugar:
S. C. Bariloche
Reunión:
Congreso; XV Reunión anual de la Asociación Argentina de Cristalografía; 2019
Institución organizadora:
Asociación Argentina de Cristalografía
Resumen:
El descubrimiento de magnetismo en materiales no magnéticos que contienen defectos ha desafiado el pensamiento convencional sobre el origen microscópico del magnetismo en general. La observación del fenómeno en óxidos no magnéticos, como ZnO, TiO2, SnO2, HfO2, etc. [1-5] ha dado lugar a una nueva área de investigación enfocada en el magnetismo inducido por defectos (DIM). Existe evidencia de que el ferromagnetismo en estos sistemas es un fenómeno complejo el cual involucra la interacción entre vacancias de oxígeno y/o catiónicas, formación de defectos complejos, impurezas dopantes y sus efectos sobre la densidad y localización de los portadores de carga [6]. Este ferromagnetismo emergente en óxidos no dopados es a menudo llamado ?ferromagnetismo d0?, donde se cree que los defectos son responsables de iniciar la hibridación a nivel de Fermi y establecer un ferromagnetismo de largo alcance [7].En el presente trabajo se presentan resultados sobre el comportamiento magnético, las propiedades estructurales y ópticas del TiO2 tratado a alta temperatura, distintas presiones de hidrógeno (20-40 atm) y vacío. Las muestras fueron analizadas mediante magnetometría de muestra vibrante (VSM) y SQUID, difracción de rayos X (DRX), Espectroscopías de absorción de rayos X (XANES), UV-Vis, Raman y XPS. Las medidas magnéticas revelan respuesta ferromagnética a temperatura ambiente en las muestras tratadas en hidrógeno. Los resultados XPS descartan la presencia de impurezas magnéticas. Existe una fuerte dependencia entre las propiedades estructurales y ópticas y las condiciones de tratamiento. [1] O. Vázquez-Robaina, et al, J. Phys. Chem. C, 123 (2019) 19851-19861.[2] P. Esquinazi, et al, Phys. Rev. Lett. 91, 227201 (2003).[3] M. Stoneham, J. Phys. Condens. Matter 22, 074211 (2010).[4] A. Sundaresan, et al, PHYSICAL REVIEW B 74, 161306(R) (2006)[5] T Fukumura, H Toyosaki and Y Yamada, Semicond. Sci. Technol. 20 (2005) S103?S111[6] J. M. D. Coey, et al. New Journal of Physics 12 (2010) 053025.[7] Xing et al. AIP Advances 1, 022152 (2011).
