FIGURAS DE POLOS GENERALIZADAS EN ACERO DÚPLEX 2205 A PARTIR DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X Y EBSD

DE VINCENTIS, N.S.; MUÑOZ BOLAÑOS, J.; SANDIM, H.; AVALOS, M.C.; BROKMEIER, H-G.; BOLMARO, R.E.

Mar del Plata

Taller; XI Taller de la Asociación Argentina de Cristalografía; 2023

Asociación Argentina de Cristalografía

La obtención de materiales con propiedades mecánicas y estructurales óptimas para una dada aplicación requiere un profundo control sobre su microestructura, textura y defectos cristalinos. Pueden usarse diferentes técnicas para la caracterización de algunas de estas propiedades, pero es la combinación de las mismas lo que brinda un conocimiento integral del desarrollo microestructural y orientacional del material. Por un lado, la difracción de electrones retrodifundidos (EBSD) permite no sólo la observación de la microestructura de un material sino la cuantificación de tamaños de granos y densidad de dislocaciones en zonas cercanas a la superficie, por lo que la información obtenida es de carácter relativamente local [1]. Por el contrario, la difracción de rayos X (XRD) permite estimar densidades de defectos en una pieza, caracterizando la misma de forma más global. Esto es posible ya que la presencia de defectos tales como pequeños dominios de difracción y la alta densidad de dislocaciones repercuten en los picos de difracción, por lo que pueden usarse distintos modelos que correlacionen ambas características [2]. En lo referido a orientaciones cristalinas, el análisis de texturas permite identificar el desarrollo de orientaciones preferenciales en la pieza a través de las Figuras de Polos (PFs), pero además puede extenderse este tipo de representación para caracterizar la presencia de defectos cristalinos en distintas orientaciones, a través de Figuras de Polos Generalizadas (GPFs) [3].En este trabajo se analizarán la microestructura y texturas de piezas de acero dúplex 2205 laminadas en frío hasta 80% de reducción. Para cada caso, a partir de datos obtenidos mediante radiación sincrotrón, se analizarán las texturas cristalográficas y se obtendrán los tamaños de dominios y densidades de dislocaciones para distintas orientaciones, representadas en GPFs. Esta información se combinará con las estructuras de granos y subgranos y sus orientaciones y desorientaciones relativas obtenidas mediante EBSD para una caracterización integral de los efectos de la deformación introducida en el material estudiado.