TKD, EBSD Y TEM combinadas para la caracterización de materiales

DE VINCENTIS, N.S.; GIORDANA, M.F.; AVALOS, M.C.

Rosario

Taller; VII Taller de Técnicas en Microscopía Electrónica; 2023

Las técnicas avanzadas de microscopía electrónica permiten caracterizar estructuras micro o nanoscópicas, por lo que son de gran aplicabilidad en la ciencia de materiales. Por un lado, la microscopía electrónica de transmisión (TEM) permite identificar subgranos, maclas y dislocaciones a nivel nanométrico, pero está supeditada a brindar información de carácter puramente local. Por otro lado, la difracción de electrones retrodispersados (EBSD) implementada en un microscopio electrónico de barrido (SEM), permite ampliar la zona analizada a milímetros de lado y determinar además la orientación cristalina en puntos separados por algunas decenas de nanómetros, por lo que no permite identificar estructuras nanométricas. A modo de punto medio entre estas técnicas, comenzó a implementarse en la última década la difracción de Kikuchi en transmisión (TKD), que al combinarse con las técnicas mencionadas permite vincular información local y global con muy buena resolución. Esto hace a estas técnicas de microscopía avanzada de gran utilidad para la caracterización de estructuras de materiales deformados por deformación plástica severa, materiales con precipitados, meteoritos, etc. En este trabajo se exploran las capacidades de las técnicas mencionadas y la combinación de la información que brindan para la caracterización microestructural de distintos materiales en los que se han desarrollado estructuras submicrométricas. La combinación de técnicas hace posible caracterizar estructuras tanto homogéneas (generada por laminación en frío, por ejemplo) como altamente heterogéneas (obtenida por extrusión de chapas a igual canal angular - ECASE), con excelente aproximación.