INVESTIGADORES
ESQUIVEL Marcelo Ricardo Oscar
congresos y reuniones científicas
Título:
Difracción de rayos X de alta temperatura y sus aplicaciones al control y procesamiento de minerales
Autor/es:
M.R. ESQUIVEL
Lugar:
San Juan - San Juan
Reunión:
Congreso; XV JORNADAS ARGENTINAS DE TRATAMIENTO DE MINERALES; 2021
Institución organizadora:
Facultad de Ingenieria Instituto de Investigaciones Mineras
Resumen:
En este trabajo, se estudia por difracción de rayos X de alta temperatura (HT-XRD) la reacción de formación de La0.25Ce0.52Nd0.17Pr0.06O2 a partir de su aleación metálica. Se caracterizan la evolución térmica y las transformaciones de fase que ocurren en este sistema a medida que progresa la reacción por mediciones in-situ de rayos X en el rango de 25 a 600 °C. El estudio se realiza utilizando un difractómetro PAN´alytical Empyrean con tubo de emisión de CuK operado a 40 kV y 30 mA asociado a una cámara de alta temperatura Anton Paar HT 1200 K con atmósfera controlada. Se estudian los parámetros estructurales y microestructurales de las fases presentes mientras simultáneamente se analiza la composición de la muestra utilizando el método Rietveld. Los resultados obtenidos son relevantes para el estudio de fases sólidas de muestras destinadas al control de parámetros de procesamiento de minerales.
