INVESTIGADORES
BONETTO fernando Jose
congresos y reuniones científicas
Título:
Excitaciones colectivas: análisis del MoS2 por espectroscopías electrónicas
Autor/es:
P. BUITRAGO; S. MONTORO; S. RODRIGUEZ; E. ALBANESI; R. VIDAL; F. BONETTO
Lugar:
Santiago del Estero
Reunión:
Encuentro; IX Encuentro de Física y Química de Superficies y I Encuentro de Biología de Superficies; 2022
Resumen:
La espectroscopía de pérdidas de energía de electrones reflejados (REELS) y la espectroscopía de electrones Auger (AES) son técnicas que, además de distinguirse por su alta sensibilidad superficial, nos proporcionan información física de la interacción de partículas cargadas con un sólido; por lo que comúnmente son usadas para la caracterización de superficies [1,2]. Con el propósito de aportar a la discusión acerca de las excitaciones provenientes del volumen o de lasuperficie de un material, se presentan resultados experimentales derivados de un estudio por espectroscopías electrónicas de una muestra de disulfuro de molibdeno (MoS2) exfoliada de forma mecánica. La preparación de la muestra fue rigurosa durante todo el estudio y, con la intención de alcanzar una superficie estequiométricamente aceptable, se efectuó la remoción de contaminantes superficiales mediante bombardeo iónico y se controló de manera alterna con AES, haciendo especial énfasis en la forma de las señales provenientes de transiciones LMM del S, MNN del Mo y KLL del C, así como la determinación del porcentaje composicional de cada elemento. Para el análisis por REELS, se realizó variación del ángulo (0º y 30º) y la energía (80 - 500 eV) de los electrones incidentes para dilucidar los procesos de pérdidas electrónicas,debidos a diferentes contribuciones existentes, precisando así las energías características de los plasmones de volumen y de superficie. Cabe destacar que se usó el molibdeno metálico como material de referencia y todos los experimentos se desarrollaron bajo condiciones de ultra alto vacío.Referencias1. Egerton, R. F. Electron Energy Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, Springer, New York, 3rd ed, 293-397, 2011.2. Hofmann, S. Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science,. Springer, Berlin, vol. 49, 451-485, 2013.